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1. (WO2011043202) 表面プラズモン増強蛍光測定装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/043202    国際出願番号:    PCT/JP2010/066609
国際公開日: 14.04.2011 国際出願日: 25.09.2010
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
出願人: Konica Minolta Holdings, Inc. [JP/JP]; 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MATHUO Masataka [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NAKAMURA Yukito [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HIKAGE Naoki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MATHUO Masataka; (JP).
NAKAMURA Yukito; (JP).
HIKAGE Naoki; (JP)
優先権情報:
2009-231226 05.10.2009 JP
発明の名称: (EN) SURFACE PLASMON-ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LA FLUORESCENCE RENFORCÉ PAR PLASMON DE SURFACE
(JA) 表面プラズモン増強蛍光測定装置
要約: front page image
(EN)By means of the disclosed device being provided with a beam-shape alteration unit (130) that alters the beam shape of excitation light, and a control means (13) that controls said beam-shape alteration unit (130), it is possible, with favorable precision, both to perform a resonance angle scan and to detect a target material.
(FR)Le dispositif de cette invention possède une partie (130) de modification de la forme de faisceau destinée à modifier la forme du faisceau lumineux d'excitation, ainsi qu'un moyen de commande (13) destiné à commander cette partie (130). Ainsi, il est possible d'effectuer avec une grande précision un balayage d'angle de résonance et la détection d'une substance cible.
(JA) 励起光のビーム形状を変更するビーム形状変更部130及びこれを制御する制御手段13を備えることにより、共鳴角スキャンと、標的物質の検出を共に精度よく行うことが可能となる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)