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1. (WO2011021465) 被測定物の特性を測定する方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2011/021465    国際出願番号:    PCT/JP2010/062214
国際公開日: 24.02.2011 国際出願日: 21.07.2010
IPC:
G01N 21/35 (2006.01), G01N 21/01 (2006.01)
出願人: MURATA MANUFACTURING CO., LTD. [JP/JP]; 10-1, Higashikotari 1-chome, Nagaokakyo-shi, Kyoto 6178555 (JP) (米国を除く全ての指定国).
NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION TOHOKU UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Katahira 2-chome, Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9808577 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TAKIGAWA, Kazuhiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KONDO, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KAMBA, Seiji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
OGAWA, Yuichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TAKIGAWA, Kazuhiro; (JP).
KONDO, Takashi; (JP).
KAMBA, Seiji; (JP).
OGAWA, Yuichi; (JP)
代理人: Fukami Patent Office, p.c.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
優先権情報:
2009-192329 21.08.2009 JP
発明の名称: (EN) METHOD FOR MEASUREMENT OF PROPERTIES OF ANALYTE
(FR) PROCÉDÉ POUR LA MESURE D'UNE PROPRIÉTÉ D'UN ANALYTE
(JA) 被測定物の特性を測定する方法
要約: front page image
(EN)A measurement method comprising holding an analyte on a void-arranged structure (1), irradiating the void-arranged structure (1) on which the analyte has been held with an electromagnetic wave, detecting an electromagnetic wave scattered on the void-arranged structure (1), and determining a property of the analyte on the basis of at least one parameter, wherein the method is characterized in that the parameter includes the amount of change in the ratio of the detected electromagnetic wave to the irradiated electromagnetic wave at a specific frequency between the presence and the absence of the analyte.
(FR)L'invention porte sur un procédé de mesure qui comprend le maintien d'un analyte sur une structure à vide ménagé (1), l'irradiation de la structure à vide ménagé (1), sur laquelle l'analyte a été maintenu, par une onde électromagnétique, la détection d'une onde électromagnétique diffusée sur la structure à vide ménagé (1) et la détermination d'une propriété de l'analyte en fonction d'au moins un paramètre, le procédé étant caractérisé en ce que le paramètre comprend la quantité de changement du rapport de l'onde électromagnétique détectée à l'onde électromagnétique irradiée à une fréquence spécifique entre la présence et l'absence de l'analyte.
(JA) 本発明は、空隙配置構造体(1)に被測定物を保持し、上記被測定物が保持された上記空隙配置構造体(1)に電磁波を照射し、上記空隙配置構造体(1)で散乱された電磁波を検出し、少なくとも1つのパラメータに基づいて上記被測定物の特性を測定する測定方法であって、上記パラメータが、特定の周波数における照射した電磁波に対する検出した電磁波の比率の被測定物の存在による変化量を含むことを特徴とする、測定方法である。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)