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1. (WO2010134403) 半導体集積回路、回路テストシステム、回路テストユニット及び回路テスト方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2010/134403    国際出願番号:    PCT/JP2010/056799
国際公開日: 25.11.2010 国際出願日: 09.04.2010
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), H01L 21/82 (2006.01), H01L 21/822 (2006.01), H01L 27/04 (2006.01)
出願人: NEC Corporation [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP) (米国を除く全ての指定国).
INOUE, Hiroaki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: INOUE, Hiroaki; (JP)
代理人: IKEDA, Noriyasu; Hibiya Daibiru Bldg., 2-2, Uchisaiwaicho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000011 (JP)
優先権情報:
2009-122048 20.05.2009 JP
発明の名称: (EN) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CIRCUIT TEST SYSTEM, CIRCUIT TEST UNIT, AND CIRCUIT TEST METHOD
(FR) CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEUR, SYSTÈME DE TEST DE CIRCUIT, UNITÉ DE TEST DE CIRCUIT ET PROCÉDÉ DE TEST DE CIRCUIT
(JA) 半導体集積回路、回路テストシステム、回路テストユニット及び回路テスト方法
要約: front page image
(EN)Provided is a semiconductor integrated circuit whereby it is possible to further decrease test terminals without depending only on compression and stretching technologies. The aforementioned semiconductor integrated circuit is connected to a terminal group used for transmission and reception of test information regarding a tested circuit and has a use device whereby those of the aforementioned terminal groups which are not used to transmit information required to read test results are used to receive test results sent from the tested circuit.
(FR)L'invention porte sur un circuit intégré à semi-conducteur, par lequel il est possible de diminuer encore davantage les bornes de test sans dépendre uniquement de technologies de compression et d'étirement. Le circuit intégré à semi-conducteur précédemment mentionné est connecté à un groupe de bornes utilisé pour l'émission et la réception d'informations de test concernant un circuit testé, et a un dispositif d'utilisation par lequel ceux des groupes de bornes précédemment mentionnés qui ne sont pas utilisés pour émettre des informations requises pour lire des résultats de test sont utilisés pour recevoir des résultats de test envoyés à partir du circuit testé.
(JA) 本発明の課題は、圧縮・伸長技術のみに依存することなく、さらなるテスト端子の削減が可能な半導体集積回路を提供することにある。本発明の半導体集積回路は、テスト対象回路のテスト情報の送受信に用いる端子群に接続されており、テスト結果の読出し時において、当該端子群のうち、テスト結果の読出しに必要な情報の送信に利用されていない端子群を、テスト対象回路からのテスト結果の受信に利用する利用装置を有している。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)