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1. WO2010131746 - 障害原因推定システム、障害原因推定方法、及び障害原因推定プログラム

公開番号 WO/2010/131746
公開日 18.11.2010
国際出願番号 PCT/JP2010/058218
国際出願日 14.05.2010
IPC
G06F 11/34 2006.01
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
11エラー検出;エラー訂正;監視
30監視
34コンピュータ動作の記録または統計的評価,例.故障時間のまたは入出力動作の記録または統計的評価
G06F 11/22 2006.01
G物理学
06計算;計数
F電気的デジタルデータ処理
11エラー検出;エラー訂正;監視
22待機作動中または遊休時間中の検査によるコンピュータ故障箇所の検出または故障位置の指示,例.始動試験
G06N 5/04 2006.01
G物理学
06計算;計数
N特定の計算モデルに基づくコンピュータ・システム
5知識ベースモデルを利用したコンピュータシステム
04推論方法または装置
CPC
G05B 23/0275
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
0205by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
0259characterized by the response to fault detection
0275Fault isolation and identification, e.g. classify fault; estimate cause or root of failure
G06F 11/0706
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
0706the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
G06F 11/079
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
079Root cause analysis, i.e. error or fault diagnosis
G06F 11/3476
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
30Monitoring
34Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
3466Performance evaluation by tracing or monitoring
3476Data logging
出願人
  • 日本電気株式会社 NEC CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 登内 敏夫 TONOUCHI Toshio [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 登内 敏夫 TONOUCHI Toshio
代理人
  • 工藤 実 KUDOH Minoru
優先権情報
2009-11827115.05.2009JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) FAULT CAUSE ESTIMATION SYSTEM, FAULT CAUSE ESTIMATION METHOD, AND FAULT CAUSE ESTIMATION PROGRAM
(FR) SYSTÈME, PROCÉDÉ ET PROGRAMME D'ESTIMATION DE CAUSE DE DÉFAUT
(JA) 障害原因推定システム、障害原因推定方法、及び障害原因推定プログラム
要約
(EN)
A fault cause estimation system is provided with an initial model generation unit which generates an initial fault derivation model of the transition between faults, and an initial event derivation model of the transition between a fault and an event on the basis of a basic model definition, an extended Baum-Welch calculation unit which generates a fault derivation model of the transition between combinations of device classes and faults, and an event derivation model of the transition between combinations of device classes and events on the basis of an instance definition, a class definition, the initial fault derivation model, the initial event derivation mode, and a learning event column, an instance derivation probability calculation unit which generates an instance derivation model of the transition between generation devices on the basis of the leaning event column, and an extended Viterbi calculation unit which estimates an event cause fault on the basis of the instance definition, a fault occurrence location class definition, the fault derivation model, the event derivation model, the instance derivation model, and a fault cause estimation event column.
(FR)
Un système d'estimation de cause de défaut est pourvu d'une unité de génération de modèle initial qui génère un modèle de dérivation de défaut initial de la transition entre les défauts, et un modèle de dérivation d'événement initial de la transition entre un défaut et un événement d'après la définition d'un modèle de base ; d'une unité de calcul Baum-Welch étendue qui génère un modèle de dérivation de défaut de la transition entre des combinaisons de classes de dispositifs et de défauts, et un modèle de dérivation d'événement de la transition entre des combinaisons de classes de dispositifs et des événements d'après une définition d'instance, une définition de classe, le modèle de dérivation de défaut initial, le modèle de dérivation d'événement initial, et une colonne d'événements d'apprentissage ; d'une unité de calcul de probabilité de dérivation d'instance qui génère un modèle de dérivation d'instance de la transition entre des dispositifs de génération d'après la colonne d'événements d'apprentissage ; et d'une unité de calcul Viterbi étendue qui estime un défaut cause d'événement d'après la définition de l'instance, la définition d'une classe d'emplacement d'occurrence de défaut, le modèle de dérivation de défaut, le modèle de dérivation d'événement, le modèle de dérivation d'instance et une colonne d'événements d'estimation de cause de défaut.
(JA)
 障害原因推定システムは、基本モデル定義に基づき、障害間の推移の初期障害派生モデル、及び障害とイベント間の推移の初期イベント派生モデルを生成する初期モデル生成部と、インスタンス定義、種別定義、初期障害派生モデル、初期イベント派生モデル、及び学習イベント列に基づき、装置種別と障害の組合せの推移の障害派生モデル、及び装置種別とイベントの組合せの推移のイベント派生モデルを生成する拡張Baum-Welch計算部と、学習イベント列に基づき、発生装置の推移のインスタンス派生モデルを生成するインスタンス派生確率計算部と、インスタンス定義、障害発生箇所種別定義、障害派生モデル、イベント派生モデル、インスタンス派生モデル、及び障害原因推定イベント列に基づき、イベント原因障害を推測する拡張Viterbi計算部とを具備する。
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