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1. WO2010067558 - 試験装置および試験方法

公開番号 WO/2010/067558
公開日 17.06.2010
国際出願番号 PCT/JP2009/006610
国際出願日 03.12.2009
IPC
H04L 29/14 2006.01
H電気
04電気通信技術
Lデジタル情報の伝送,例.電信通信
29グループH04L1/00~H04L27/00の単一のグループに包含されない配置,装置,回路または方式
14障害対策
CPC
G01R 31/2834
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
H04L 43/50
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
43Arrangements for monitoring or testing packet switching networks
50Testing arrangements
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 碁石 優 GOISHI, Masaru [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 中山 浩康 NAKAYAMA, Hiroyasu [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 津藤 勝 TSUTO, Masaru [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 碁石 優 GOISHI, Masaru
  • 中山 浩康 NAKAYAMA, Hiroyasu
  • 津藤 勝 TSUTO, Masaru
代理人
  • 龍華国際特許業務法人 RYUKA IP Law Firm
優先権情報
12/329,63508.12.2008US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) TEST APPARATUS AND TEST METHOD
(FR) APPAREIL D'ESSAI ET PROCÉDÉ D'ESSAI
(JA) 試験装置および試験方法
要約
(EN)
Disclosed is a test apparatus for testing a device to be tested. The test apparatus is provided with: an upper-level sequencer that executes a test program for testing the device to be tested and successively designates packets transmitted between this test apparatus and the device to be tested; a packet data sequence storage unit that stores data sequences contained in respective packets of a plurality of types; and a lower-level sequencer that reads data sequences of packets designated by the upper-level sequencer from the packet data sequence storage unit and generates a test data sequence that is employed in testing between this test apparatus and the device to be tested.
(FR)
L'invention concerne un appareil d'essai pour tester un dispositif devant être testé. L'appareil d'essai comprend : un séquenceur de niveau supérieur qui exécute un programme d'essai destiné à tester le dispositif à tester et désigne successivement les paquets transmis entre cet appareil d'essai et le dispositif à tester ; une unité de stockage de séquence de données de paquets qui stocke les séquences de données contenues dans des paquets respectifs d'une pluralité de types ; et un séquenceur de niveau inférieur qui lit les séquences de données de paquets désignés par le séquenceur de niveau supérieur à partir de l'unité de stockage de séquences de données de paquets et génère une séquence de données d'essai qui est employée dans l'essai entre cet appareil d'essai et le dispositif à tester.
(JA)
 被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験するための試験プログラムを実行して、被試験デバイスとの間で通信する各パケットを順次指定する上位シーケンサと、複数種類のパケットのそれぞれに含まれるデータ列を記憶するパケットデータ列記憶部と、パケットデータ列記憶部から、上位シーケンサにより指定されたパケットのデータ列を読み出して、被試験デバイスとの間の試験に用いる試験データ列を生成する下位シーケンサと、を備える試験装置を備える。
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