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1. WO2010067468 - 試験装置および試験方法

公開番号 WO/2010/067468
公開日 17.06.2010
国際出願番号 PCT/JP2009/002401
国際出願日 29.05.2009
IPC
G01R 31/28 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
CPC
G01R 31/2834
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
H04L 43/50
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
43Arrangements for monitoring or testing packet switching networks
50Testing arrangements
出願人
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 石川 愼一 ISHIKAWA, Shinichi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 碁石 優 GOISHI, Masaru [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 中山 浩康 NAKAYAMA, Hiroyasu [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 津籐 勝 TSUTO, Masaru [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 石川 愼一 ISHIKAWA, Shinichi
  • 碁石 優 GOISHI, Masaru
  • 中山 浩康 NAKAYAMA, Hiroyasu
  • 津籐 勝 TSUTO, Masaru
代理人
  • 龍華国際特許業務法人 RYUKA IP Law Firm
優先権情報
12/329,63508.12.2008US
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) TESTING DEVICE AND TESTING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 試験装置および試験方法
要約
(EN)
Provided is a testing device for testing a device to be tested, which comprises a plurality of testing sections for each operating in response to a given program and testing the device to be tested, and a synchronization section for synchronizing the operations of at least two testing sections in the plurality of testing sections with each other.  Each of the testing sections notifies the synchronization section of a synchronization waiting command when a predetermined condition is satisfied to achieve a synchronization waiting state during the execution of the corresponding program, and the synchronization section supplies synchronization signals for cancelling the synchronization waiting state to two or more predetermined testing sections out of the plurality of testing sections in synchronization with each other on condition that the synchronization section has received the synchronization waiting commands from all of one or more predetermined testing sections out of the plurality of testing sections.
(FR)
L'invention porte sur un dispositif de test pour tester un dispositif à tester, qui comprend une pluralité de sections de test fonctionnant chacune en réponse à un programme donné et testant le dispositif à tester, et une section de synchronisation pour synchroniser les opérations d'au moins deux sections de test dans la pluralité de sections de test l'une avec l'autre. Chacune des sections de test notifie à la section de synchronisation une instruction d'attente de synchronisation lorsqu'une condition prédéterminée est satisfaite pour atteindre un état d'attente de synchronisation durant l'exécution du programme correspondant, et la section de synchronisation fournit des signaux de synchronisation pour annuler l'état d'attente de synchronisation à deux sections de test prédéterminées ou plus parmi la pluralité de sections de test en synchronisme l'une avec l'autre à condition que la section de synchronisation ait reçu les instructions d'attente de synchronisation provenant de la totalité d'une ou plusieurs sections de test prédéterminées parmi la pluralité de sections de test.
(JA)
 被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ与えられるプログラムに応じて動作して被試験デバイスを試験する複数の試験部と、複数の試験部における少なくとも2つの試験部の動作を同期させる同期部とを備え、それぞれの試験部は、対応するプログラムの実行中に予め定められた条件を満たして同期待ち状態になる場合に、同期部に同期待ちコマンドを通知し、同期部は、複数の試験部のうちの、所定の1以上の試験部の全てから同期待ちコマンドを受け取ったことを条件として、複数の試験部のうちの、所定の2以上の試験部に対して、同期待ち状態を解除する同期信号を同期して供給する試験装置を提供する。
他の公開
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