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1. WO2010064720 - 太陽電池セルの検査装置、検査方法及びそのプログラムを記録した記録媒体

公開番号 WO/2010/064720
公開日 10.06.2010
国際出願番号 PCT/JP2009/070443
国際出願日 01.12.2009
IPC
H01L 31/04 2006.01
H電気
01基本的電気素子
L半導体装置,他に属さない電気的固体装置
31赤外線,可視光,短波長の電磁波,または粒子線輻射に感応する半導体装置で,これらの輻射線エネルギーを電気的エネルギーに変換するかこれらの輻射線によって電気的エネルギーを制御かのどちらかに特に適用されるもの;それらの装置またはその部品の製造または処理に特に適用される方法または装置;それらの細部
04光起電変換装置として使用されるもの
CPC
G01N 21/66
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
66electrically excited, e.g. electroluminescence
G01N 21/9501
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
9501Semiconductor wafers
G01N 21/9505
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
9501Semiconductor wafers
9505Wafer internal defects, e.g. microcracks
出願人
  • 日清紡ホールディングス株式会社 Nisshinbo Holdings Inc. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 下斗米 光博 SHIMOTOMAI Mitsuhiro [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 下斗米 光博 SHIMOTOMAI Mitsuhiro
優先権情報
2008-30808603.12.2008JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SOLAR CELL, AND RECORDING MEDIUM HAVING PROGRAM OF THE METHOD RECORDED THEREON
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CELLULE DE PILE SOLAIRE, ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT SUR LEQUEL EST ENREGISTRÉ UN PROGRAMME DU PROCÉDÉ
(JA) 太陽電池セルの検査装置、検査方法及びそのプログラムを記録した記録媒体
要約
(EN)
Provided is an apparatus for inspecting a solar cell having a high cell use efficiency, said apparatus being configured so as to determine whether the quality of the solar cell is acceptable or not by analyzing in detail a solar cell image obtained by photographing the solar cell. The apparatus for inspecting the solar cell includes: an image acquiring unit (5) which acquires the cell image which depicts the solar cell in the state wherein a current is carried therein; a defect determining unit (2A) which identifies defects in the solar cell based on the solar cell image; and a defect region identifying unit (2B) which identifies regions where defects exist and regions where defects do not exist in the solar cell, based on the results of the identification of the solar cell defects.
(FR)
L'invention concerne un dispositif d'inspection d'une cellule de pile solaire présentant une efficacité d'utilisation de cellule élevée, et qui consiste à: déterminer correctement la conformité/non-conformité de la cellule de pile solaire par l'analyse détaillée d'une image de ladite cellule, obtenue par une photographie de celle-ci. Ce dispositif comprend: une partie (5) acquisition d'image qui saisit une image de la cellule indiquant l'état de la cellule parcourue par un courant; une partie (2A) détermination de défaut qui détermine des défauts de la cellule sur la base de l'image de la cellule; et une partie (2B) détermination de région de défaut qui détermine une région dans laquelle un défaut est présent et une région de la cellule qui est dépourvue de défaut, sur la base des résultats de la détermination d'un défaut de la cellule.
(JA)
 撮影して得られた太陽電池セルの画像を詳細に分析して太陽電池セルの良否の判定が正確に出来るようにして、セル使用効率の高い太陽電池セルの検査装置等を提供する。  太陽電池セルの検査装置を、通電された状態の太陽電池セルを表すセル画像を取得する画像取得部5と、前記太陽電池セル画像により太陽電池セルの欠陥を判定する欠陥判定部2Aと、前記太陽電池セルの欠陥判定結果に基づき太陽電池セルに欠陥の有る領域と欠陥の無い領域を判定する欠陥領域判定部2Bとを含む構成とした。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報