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1. WO2010061888 - プローブユニット用ベース部材およびプローブユニット

公開番号 WO/2010/061888
公開日 03.06.2010
国際出願番号 PCT/JP2009/069954
国際出願日 26.11.2009
IPC
G01R 1/073 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
1グループG01R5/00~G01R13/00またはG01R31/00に包含される型の機器または装置の細部
02一般的な構造の細部
06測定用導線;測定用探針
067測定用探針
073複合探針
G01R 31/26 2006.01
G物理学
01測定;試験
R電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
26個々の半導体装置の試験
H01R 33/76 2006.01
H電気
01基本的電気素子
R導電接続;互いに絶縁された多数の電気接続要素の構造的な集合体;嵌合装置;集電装置
33装置を保持する役目と,その装置と構造的に組合わされている相手方部品を通じて電気的接続をする役目を果たしている,ホルダ部分を持つ,特にその装置を支持するために適合した嵌合装置,例.ランプ・ホルダ;その個々の部品
744個以上の極をもつ装置
76ソケット,クリップまたは同様な接触子をもち,この接触子が相手方部品上の並行配置のピン,刃または同様な接触子との軸方向の摺動係合に適合するホルダ,例.電子管ソケット
CPC
G01R 1/0466
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
0433Sockets for IC's or transistors
0441Details
0466concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
G01R 1/0483
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
0433Sockets for IC's or transistors
0483Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
G01R 1/06722
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
06716Elastic
06722Spring-loaded
G01R 1/07378
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07364with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
07378using an intermediate adapter, e.g. space transformers
G01R 3/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
3Apparatus or processes specially adapted for the manufacture ; or maintenance; of measuring instruments ; , e.g. of probe tips
H01R 13/2421
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
13Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
02Contact members
22Contacts for co-operating by abutting
24resilient; resiliently-mounted
2407characterized by the resilient means
2421using coil springs
出願人
  • 日本発條株式会社 NHK SPRING CO., LTD. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 風間 俊男 KAZAMA, Toshio [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 広中 浩平 HIRONAKA, Kohei [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 近藤 充博 KONDO, Mitsuhiro [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 伊藤 修 ITO, Osamu [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 風間 俊男 KAZAMA, Toshio
  • 広中 浩平 HIRONAKA, Kohei
  • 近藤 充博 KONDO, Mitsuhiro
  • 伊藤 修 ITO, Osamu
代理人
  • 酒井 宏明 SAKAI, Hiroaki
優先権情報
2008-30122326.11.2008JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) BASE MEMBER FOR PROBE UNIT, AND PROBE UNIT
(FR) ELÉMENT DE BASE POUR UNITÉ DE SONDE ET UNITÉ DE SONDE
(JA) プローブユニット用ベース部材およびプローブユニット
要約
(EN)
Disclosed is a base member for a probe unit, which has high rigidity and can be produced without requiring much time and effort.  Also disclosed is a probe unit.  The base member for a probe unit comprises: a conductive substrate (41), which has a first opening portion (41a) to which a probe holder (3) can be fitted, and a second opening portion (41b) communicating with the first opening portion (41a); a coating film (42) composed of an insulating adhesive and covering at least the edge of the second opening portion (41b); and an insulting guide member (43), which is bonded to the edge of the second opening portion (41b) with the coating film (42) therebetween, and guides one of two objects to be contacted to the contact position where the object is brought into contact with a probe (2).
(FR)
L'invention porte sur un élément de base, pour une unité de sonde, qui possède une grande rigidité et qui peut être fabriqué sans beaucoup de temps ni d'efforts. L'invention porte également sur une unité de sonde. L'élément de base pour l’unité de sonde comporte : un substrat conducteur (41) qui présente une première partie d'ouverture (41a) sur laquelle on peut ajuster un support de sonde (3), et une seconde partie d'ouverture (41b) communiquant avec la première partie d'ouverture (41a) ; un film de revêtement (42) composé d'un adhésif isolant et recouvrant au moins le bord de la seconde partie d'ouverture (41b), et un élément de guidage isolant (43) qui est lié au bord de la seconde partie d'ouverture (41b) avec le film de revêtement (42) entre ceux-ci, et qui guide l'un des deux objets devant être mis en contact vers la position dans laquelle l'objet est amené en contact avec la sonde (2).
(JA)
 高い剛性を有するとともに、製造に手間がかからないプローブユニット用ベース部材およびプローブユニットを提供する。この目的のため、プローブホルダ3を取付可能な第1開口部41aおよび第1開口部41aと連通する第2開口部41bを有する導電性の基板41と、絶縁性接着剤からなり、少なくとも第2開口部41bの縁を被覆する被膜42と、第2開口部41bの縁に被膜42を介して接着され、2つの被接触体の一方をプローブ2との接触位置へ案内する絶縁性のガイド部材43と、を備える。
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