WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2010052771) 電子部品ハンドリング装置および電子部品移送方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2010/052771    国際出願番号:    PCT/JP2008/070133
国際公開日: 14.05.2010 国際出願日: 05.11.2008
IPC:
G01R 31/26 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SUZUKI, Katsuhiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
YAMASHITA, Kazuyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NAKAZAWA, Hidetaka [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SUZUKI, Katsuhiko; (JP).
YAMASHITA, Kazuyuki; (JP).
NAKAZAWA, Hidetaka; (JP)
代理人: HAYAKAWA, Yuzi; Arcadia Patent Firm, Suite 501 Hikawa-Annex No.2 9-5, Akasaka 6-chome Minato-ku, Tokyo 1070052 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) ELECTRONIC COMPONENT HANDLING APPARATUS AND ELECTRONIC COMPONENT TRANSFER METHOD
(FR) APPAREIL DE MANIPULATION DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE ET PROCÉDÉ DE TRANSFERT DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子部品ハンドリング装置および電子部品移送方法
要約: front page image
(EN)A handler (1) is provided with a loader (P&P304) for transferring an untested IC device from an IC device supplying customer tray (KST) to a test tray (TST); an unloader (P&P404) for transferring a tested IC device from the test tray (TST) to a sorting customer tray (KST); and a transfer apparatus (108) for transferring the test tray (TST) from a loader section (300) to a chamber (100), an unloader section (400) and to the loader section (300). At the time when the loader (P&P304) transfers the untested IC device from a first customer tray (KST) to a first test tray (TST), the unloader (P&P404) transfers the untested IC device from a second customer tray (KST) to a second test tray (TST).
(FR)L'invention porte sur un manipulateur (1) qui comprend un dispositif de chargement (P&P304) pour transférer un dispositif à circuit intégré (CI) non testé d'un compartiment de client fournisseur de dispositif CI (KST) à un compartiment de test (TST) ; un dispositif de déchargement (P&P404) pour transférer un dispositif CI testé du compartiment de test (TST) à un compartiment de client de triage (KST) ; et un appareil de transfert (108) pour transférer le compartiment de test (TST) d'une section de chargement (300) à une chambre (100), une section de déchargement (400) et à la section de chargement (300). Lorsque le dispositif de chargement (P&P304) transfère le dispositif CI non testé d'un premier compartiment de client (KST) à un premier compartiment de test (TST), le dispositif de déchargement (P&P404) transfère le dispositif CI non testé d'un second compartiment de client (KST) à un second compartiment de test (TST).
(JA) 試験前ICデバイスを供給用のカスタマトレイKSTからテストトレイTSTに移送するローダP&P304と、試験済ICデバイスをテストトレイTSTから仕分け用のカスタマトレイKSTに移送するアンローダP&P404と、テストトレイTSTをローダ部300~チャンバ100~アンローダ部400~ローダ部300間で搬送する搬送装置108とを備えたハンドラ1において、ローダP&P304が試験前ICデバイスを第1のカスタマトレイKSTから第1のテストトレイTSTに移送するときに、アンローダP&P404は、試験前ICデバイスを第2のカスタマトレイKSTから第2のテストトレイTSTに移送する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)