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1. (WO2010004754) 試験装置、試験方法、及び位相シフタ
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2010/004754    国際出願番号:    PCT/JP2009/003209
国際公開日: 14.01.2010 国際出願日: 09.07.2009
IPC:
G01R 31/319 (2006.01), G11C 29/56 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TAMURA, Kenji [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TAMURA, Kenji; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; (JP)
優先権情報:
2008-179165 09.07.2008 JP
発明の名称: (EN) TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND PHASE SHIFTER
(FR) DISPOSITIF DE TEST, PROCÉDÉ DE TEST ET DÉPHASEUR
(JA) 試験装置、試験方法、及び位相シフタ
要約: front page image
(EN)Provided are a testing device, a testing method, and a phase shifter which reduce a phase error of a signal. The testing device comprises a reproduction clock generating circuit for generating a reproduction clock approximately equal to the phase of output data outputted by a device under test, a data acquisition section for acquiring the output value of the output data at the timing instructed by a strobe signal based on the reproduction clock, a comparator for comparing the output value acquired by the data acquisition section with a predetermined expected value, and a determination section for determining the quality of the device under test according to the result of the comparison of the comparator.  The reproduction clock generating circuit is provided with a phase comparator for comparing the phase of the output data outputted by the device under test with the phase of the reproduction clock, a control signal generating section for generating a control signal so that the phase of the reproduction clock is synchronized with the phase of the output data, and a phase shifter for allowing the control signal to continuously shift the phase of a reference clock.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de test, un procédé de test et un déphaseur qui réduisent une erreur de phase d’un signal. Le dispositif de test comprend un circuit de génération d’horloge de reproduction permettant de générer une horloge de reproduction approximativement égale à la phase de données de sortie émises par un dispositif soumis à un test, une section acquisition de données permettant d’acquérir la valeur de sortie des données de sortie à la synchronisation instruite par un signal stroboscopique sur la base de l’horloge de reproduction, un comparateur permettant de comparer la valeur de sortie acquise par la section acquisition de données avec une valeur attendue prédéterminée, et une section détermination permettant de déterminer la qualité du dispositif soumis à un test en fonction du résultat de la comparaison du comparateur. Le circuit de génération d’horloge de reproduction est muni d’un comparateur de phases permettant de comparer la phase des données de sortie émises par le dispositif soumis à un test avec la phase de l’horloge de reproduction, d’une section génération de signal de commande permettant de générer un signal de commande de façon que la phase de l’horloge de reproduction soit synchronisée avec la phase des données de sortie, et un déphaseur permettant que le signal de commande décale continuellement la phase d’une horloge de référence.
(JA) 信号の位相誤差軽減させる試験装置、試験方法、位相シフタを提供する。  被試験デバイスが出力する出力データの位相と略等しい再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生クロックに基づくストローブ信号が指示するタイミングで前記出力データの出力値を取得するデータ取得部と、前記データ取得部が取得した前記出力値を予め定められた期待値と比較する比較器と、前記比較器の比較結果に基づき前記被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備え、前記再生クロック生成回路は、前記被試験デバイスが出力した前記出力データの位相と前記再生クロックの位相とを比較する位相比較器と、前記位相比較器の出力に基づき、前記再生クロックの位相が前記出力データの位相に同期するように制御信号を発生する制御信号発生部と、前記制御信号により基準クロックの位相を連続的に移相する位相シフタとを有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)