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1. (WO2010001973) 画像検査処理装置、画像検査処理方法、プログラム、及び、記録媒体
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2010/001973    国際出願番号:    PCT/JP2009/062148
国際公開日: 07.01.2010 国際出願日: 02.07.2009
IPC:
G01M 11/00 (2006.01), G09G 5/00 (2006.01), G09G 5/02 (2006.01)
出願人: SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (米国を除く全ての指定国).
UEKI, Shota; (米国のみ)
発明者: UEKI, Shota;
代理人: HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041 (JP)
優先権情報:
2008-173958 02.07.2008 JP
発明の名称: (EN) IMAGE INSPECTION PROCESSING DEVICE, IMAGE INSPECTION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INSPECTION D'IMAGE, PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INSPECTION D'IMAGE, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 画像検査処理装置、画像検査処理方法、プログラム、及び、記録媒体
要約: front page image
(EN)An image processing device (12) for inspecting an object to be inspected which is capable of gradation display according to a captured image of the display surface of the object to be inspected is provided with a defect search section (20) for calculating the area of a halation region in the captured image, the luminance of the peripheral pixels of the halation region, the area of a region including all pixels inside the peripheral pixels, and the estimated peak position of the luminance in the halation region, and a halation region luminance correction processing section (24) for estimating the real luminance value of each of the pixels in the halation region by applying a predetermined luminance distribution model based on each of the calculated values to the halation region.  This enables the accurate determination of a defect rank for a defect with high luminance in the halation region in an image inspection while ensuring the sensitivity for detecting a defect with low luminance.
(FR)L'invention porte sur un dispositif de traitement d'image (12) pour inspecter un objet devant être inspecté, lequel dispositif est capable d'un affichage à gradation selon une image capturée de la surface d'affichage de l'objet devant être inspecté, et comporte une section de recherche de défaut (20) pour calculer la surface d'une région de halo dans l'image capturée, la luminance des pixels périphériques de la région de halo, la surface d'une région comprenant tous les pixels à l'intérieur des pixels périphériques, et la position de pic estimée de la luminance dans la région de halo, et une section de traitement de correction de luminance de région de halo (24) pour estimer la valeur de luminance réelle de chacun des pixels dans la région de halo par l'application d'un modèle de distribution de luminance prédéterminé, sur la base de chacune des valeurs calculées, à la région de halo. Ceci permet la détermination précise d'un ordre de défaut pour un défaut avec une luminance élevée dans la région de halo lors d'une inspection d'image tout en s'assurant de la sensibilité pour détecter un défaut avec une luminance faible.
(JA) 画像処理装置(12)は、階調表示が可能な被検査物を、当該被検査物における表示面の撮像画像に基づき検査する画像処理装置(12)であって、上記撮像画像におけるハレーション領域の面積、当該ハレーション領域の周辺画素の輝度、当該周辺画素から内側の画素全てを含んだ領域の面積、当該ハレーション領域内の輝度の推定ピーク位置をそれぞれ算出する欠陥探索部(20)と、上記算出された各値に基づく所定の輝度分布モデルを上記ハレーション領域に適用することによって、当該ハレーション領域内の各画素の実質輝度値を推定するハレーション領域輝度補正処理部(24)を備えている。これにより、画像検査において、低輝度の欠陥を検出するための感度を確保しつつ、ハレーション領域における高輝度の欠陥についても、正確な欠陥ランクの判定を可能にする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)