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1. (WO2010001843) 磁気ディスク用基板及び磁気ディスク
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2010/001843    国際出願番号:    PCT/JP2009/061821
国際公開日: 07.01.2010 国際出願日: 29.06.2009
IPC:
G11B 5/73 (2006.01), G11B 5/82 (2006.01), G11B 5/84 (2006.01)
出願人: HOYA CORPORATION [JP/JP]; 7-5, Naka-Ochiai 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1618525 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KITSUNAI, Kouji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TAKEDA, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SENDA, Yukari [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KITSUNAI, Kouji; (JP).
TAKEDA, Hiroshi; (JP).
SENDA, Yukari; (JP)
代理人: IKEDA, Noriyasu; (JP)
優先権情報:
2008-171356 30.06.2008 JP
発明の名称: (EN) SUBSTRATE FOR MAGNETIC DISC AND MAGNETIC DISC
(FR) SUBSTRAT POUR DISQUE MAGNÉTIQUE ET DISQUE MAGNÉTIQUE
(JA) 磁気ディスク用基板及び磁気ディスク
要約: front page image
(EN)The occurrence of inconveniences is suppressed in an HDD device in which a shape of surface defects and the number thereof are controlled and on which a magnetic head with a very small flying height like a DFH head is mounted.  A substrate for a magnetic disc is characterized in that the size of detected defects ranges from 0.1μm through not larger than 0.3μm and the number thereof is less than 50 per 24cm2 in the case where laser light with the laser power of 25mW and the wavelength of 405nm is irradiated at the spot radius of 5μm and scattering light is detected from the substrate.  The substrate is further characterized in that the defects are detected by applying a bearing curve plot method used with an interatomic force microscope, no portions of the defects in the bearing curve from the top to 45% thereof exist at a higher position area of the defect height than a hypothetic line connected from the top of the defects to 45% thereof.
(FR)Selon l'invention, le contrôle d’une forme et du nombre de défauts de surface permet de supprimer l'apparition d'inconvénients dans un dispositif HDD sur lequel est fixée une tête magnétique à très petite hauteur de survol comme une tête DFH. Un substrat pour disque magnétique est caractérisé en ce que la dimension de défauts détectés se situe entre 0,1 µm et pas plus de 0,3 µm et le nombre de défauts est inférieur à 50 par 24 cm2 dans le cas où une lumière laser présentant une puissance laser de 25 mW et une longueur d'onde de 405 nm est incidente à un rayon de point de 5 µm et une lumière de diffusion est détectée à partir du substrat. En outre, le substrat caractérisé en ce que les défauts sont détectés par application d'un procédé de tracé de courbe de portée utilisé avec un microscope à force interatomique, aucune partie des défauts dans la courbe de portée, de la partie supérieure à 45 % de celle-ci, n'existe à une zone de position supérieure de la hauteur de défaut par rapport à une ligne hypothétique reliant la partie supérieure des défauts à 45 % de celle-ci.
(JA) 本発明の課題は、表面欠陥の形状及び個数が管理されて、DFHヘッドのようにフライングハイトが非常に小さい磁気ヘッドが搭載されたHDD装置における不具合の発生を抑えることにある。  本発明の磁気ディスク用基板は、レーザパワー25mWの波長405nmのレーザ光を5μmのスポット径で照射した際の前記基板からの散乱光を検出した際に0.1μm~0.3μm以下のサイズと検出された欠陥が24cm当たり50個未満であり、前記欠陥について原子間力顕微鏡を用いたベアリングカーブプロット法により得られたベアリングカーブにおける前記欠陥の頂点から45%までの部分が前記欠陥の頂点から45%を結んだ仮想線よりも欠陥高さの高い領域に位置する欠陥が、存在しないことを特徴とする。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)