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World Intellectual Property Organization
1. (WO2010001439) 質量分析装置

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2010/001439    国際出願番号:    PCT/JP2008/001760
国際公開日: 07.01.2010 国際出願日: 03.07.2008
G01N 27/62 (2006.01)
出願人: Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAJIHARA, Shigeki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAJIHARA, Shigeki; (JP)
代理人: KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
(JA) 質量分析装置
要約: front page image
(EN)The MS analysis is performed for each of microscopic areas within a specified mass spectrometry range on a sample, and specified m/z or m/z range of distribution images are generated in accordance with the data derived from the MS analysis to be drawn on a display screen (S10 to S14). When an operator views such images to identify a substance of interest, and indicates the pertinent m/z (S15), microscopic areas the m/z intensity of which exceeds a threshold on the MS spectrum are extracted, and the MS/MS analysis is performed for the microscopic areas using m/z of the substance of interest as a precursor (S26, S27). An average MS/MS spectrum is calculated from the derived MS/MS spectrum data for each of the microscopic areas (S28), and the substance of interest is identified by the use of peak information appearing on the average MS/MS spectrum (S19).
(FR)L’invention concerne la réalisation d’une analyse MS pour chaque zone microscopique située dans une plage de spectrométrie de masse spécifiée sur un échantillon. Des rapports m/z spécifiés ou une plage de rapports m/z spécifiée d’images de distribution sont générés en fonction des données dérivées de l’analyse MS à représenter sur un écran d’affichage (S10 à S14). Lorsqu’un opérateur affiche de telles images pour identifier une substance d’intérêt, et indique le rapport m/z pertinent (S15), les zones microscopiques dont l’intensité du rapport m/z dépasse un seuil sur le spectre MS sont extraites, et l’analyse MS/MS est réalisée pour les zones microscopiques en utilisant le rapport m/z de la substance d’intérêt en tant que précurseur (S26, S27). Un spectre MS/MS moyen est calculé à partir des données de spectre MS/MS dérivées pour chacune des zones microscopiques (S28), et la substance d’intérêt est identifiée en utilisant les informations de pics qui apparaissent sur le spectre MS/MS moyen (S19).
(JA) 試料上の指定された質量分析範囲内の各微小領域のMS分析が実行され、それにより得られたデータに基づいて、指定されたm/z又はm/z範囲の分布画像が作成されて表示画面上に描出される(S10~S14)。オペレータがこれを見て関心物質を特定しそのm/zを指示すると(S15)、MSスペクトル上でそのm/zの強度が閾値以上である微小領域が抽出され、その微小領域に対して関心物質のm/zをプリカーサとしてMS/MS分析が実行される(S26、S27)。得られた各微小領域のMS/MSスペクトルデータから平均MS/MSスペクトルが算出され(S28)、平均MS/MSスペクトルに出現するピーク情報を利用して関心物質の同定が実行される(S19)。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)