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1. (WO2009122700) 試験装置および試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/122700    国際出願番号:    PCT/JP2009/001426
国際公開日: 08.10.2009 国際出願日: 27.03.2009
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01), G06F 11/22 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo, 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MURATA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SUGAYA, Tomoyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
AKHTAR, Sami [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MURATA, Kiyoshi; (JP).
SUGAYA, Tomoyuki; (JP).
AKHTAR, Sami; (JP)
代理人: RYUKA IP Law Firm; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku, 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, 1631105 (JP)
優先権情報:
12/058,756 30.03.2008 US
発明の名称: (EN) TEST DEVICE AND TEST METHOD
(FR) DISPOSITIF D’ESSAI ET PROCÉDÉ D’ESSAI
(JA) 試験装置および試験方法
要約: front page image
(EN)A test device aims to improve efficiency of tests in the whole test device. The test device is provided with a plurality of pattern generation sections which generate test patterns to give to a device to be tested; group control sections which each controls a group of pattern generation sections out of the pattern generation sections and, receiving a signal generated by a controlled pattern generation section, generates a control signal; a range information storage section which stores range information indicating the range of a pattern generation section to be provided for the test of one independent device to be tested out of the pattern generation sections; and an integration control section which, receiving the control signal from the group control section, judges another pattern generation section which gives the test pattern to the one device to be tested with the pattern generation section having generated the signal on the basis of the range information and controls the operation of another group control section controlling another pattern generation part as the response to the control signal.
(FR)L'invention porte sur un dispositif d’essai qui vise à améliorer l'efficacité d’essais dans l'ensemble du dispositif d’essai. Le dispositif d’essai comporte une pluralité de sections de génération de motifs qui génèrent des motifs de contrôle destinés à être communiqués à un dispositif devant faire l’objet d’un essai ; des sections de commande de groupe qui commandent chacune un groupe de sections de génération de motifs parmi les sections de génération de motifs, et, à la réception d'un signal généré par une section de génération de motifs commandée, génèrent un signal de commande ; une section de stockage d'informations de plage qui stocke des informations de plage indiquant la plage d'une section de génération de motifs devant être fournie pour l’essai d'un dispositif indépendant devant faire l’objet d’un essai parmi les sections de génération de motifs ; une section de commande d'intégration, lequel, à la réception du signal de commande provenant de la section de commande de groupe, évalue une autre section de génération de motifs qui communique le motif de contrôle au dispositif devant faire l’objet d’un essai avec la section de génération de motifs ayant généré un signal sur la base des informations de plage et commande l'actionnement d'une autre section de commande de groupe commandant une autre partie de génération de motifs comme réponse au signal de commande.
(JA) 試験装置全体の試験効率を向上することを目的として、被試験デバイスに与える試験パターンを生成する複数のパターン生成部と、複数のパターン生成部のうち一群のパターン生成部を制御し、制御下にあるパターン生成部が発する信号を受けて制御信号を生成する群制御部と、複数のパターン生成部のうち独立した一の被試験デバイスの試験に供されるパターン生成部の範囲を示す範囲情報を格納する範囲情報格納部と、群制御部からの制御信号を受けて、信号を発したパターン生成部と共に一の被試験デバイスに試験パターンを与える他のパターン生成部を範囲情報に基づき判断し、制御信号に対する応答として、他のパターン生成部を制御する他の群制御部の動作を制御する統合制御部と、を備えた試験装置が提供される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)