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1. (WO2009122699) 試験モジュール、試験装置および試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/122699    国際出願番号:    PCT/JP2009/001423
国際公開日: 08.10.2009 国際出願日: 27.03.2009
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01), G06F 11/22 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo, 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
AKHTAR, Sami [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MURATA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SUGAYA, Tomoyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: AKHTAR, Sami; (JP).
MURATA, Kiyoshi; (JP).
SUGAYA, Tomoyuki; (JP)
代理人: RYUKA IP Law Firm; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
優先権情報:
12/058,754 30.03.2008 US
発明の名称: (EN) TEST MODULE, TEST DEVICE, AND TEST METHOD
(FR) MODULE D’ESSAI, DISPOSITIF D’ESSAI ET PROCÉDÉ D’ESSAI
(JA) 試験モジュール、試験装置および試験方法
要約: front page image
(EN)Efficiency of tests in the whole test device is improved. A test module comprises an indication information storage section for storing indication information indicating the developing order of basic patterns; a basic pattern data storage section for storing data relating to the basic patterns; and an indication information temporary storage section for temporarily storing a part of the indication information. The module is provided with a plurality of pattern generation sections which develop the data relating to the basic patterns in an order indicated by the indication information stored in the indication information temporary storage section, to generate test patterns to give to a device to be tested; and a plurality of positional information storage parts which associate positional information indicating the reading position of the indication information stored in the indication information storage section shared by the pattern generation sections with each of the pattern generation sections and independently store the positional information.
(FR)L'invention vise à améliorer l'efficacité d’essais dans l'ensemble du dispositif d’essai. A cet effet, un module d’essai comprend une section de stockage d'informations d'indication pour stocker des informations d'indication indiquant l'ordre de développement de motifs de base ; une section de stockage de données de motifs de base pour stocker des données concernant les motifs de base ; et une section de stockage temporaire d'informations d'indication pour stocker temporairement une partie des informations d'indication. Le module comporte une pluralité de sections de génération de motifs qui développent les données concernant les motifs de base dans un ordre indiqué par les informations d'indication stockées dans la section de stockage temporaire d'informations d'indication, pour générer des motifs de contrôle destinés à être communiqués à un dispositif devant être faire l’objet d’un essai ; et une pluralité de parties de stockage d'informations de position qui associent des informations de position indiquant la position de lecture des informations d'indication stockées dans la section de stockage d'informations d'indication partagée par les sections de génération de motifs avec chacune des sections de génération de motifs, et stockent indépendamment les informations de position.
(JA) 試験装置全体の試験効率を向上することを目的として、基本パターンの展開順序を指示する指示情報を格納する指示情報格納部と、基本パターンのデータを格納する基本パターンデータ格納部と、指示情報の一部を一時的に格納する指示情報一時格納部を有し、指示情報一時格納部に格納された指示情報が指示する順に基本パターンのデータを展開して、被試験デバイスに与える試験パターンを生成する複数のパターン生成部と、複数のパターン生成部に共通の指示情報格納部に格納された指示情報の読み出し位置を示す位置情報を、複数のパターン生成部の各々に対応付けて独立に格納する複数の位置情報格納部と、を備えた試験モジュールが提供される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)