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1. (WO2009113669) アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2009/113669 国際出願番号: PCT/JP2009/054898
国際公開日: 17.09.2009 国際出願日: 13.03.2009
IPC:
G09F 9/30 (2006.01) ,G02F 1/13 (2006.01) ,G09F 9/00 (2006.01)
出願人: TANIMOTO, Kazunori; null (UsOnly)
OGASAWARA, Isao; null (UsOnly)
YOSHIDA, Masahiro; null (UsOnly)
KAWAMURA, Takehiko; null (UsOnly)
TAKIZAWA, Hideaki; null (UsOnly)
SHARP KABUSHIKI KAISHA[JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522, JP (AllExceptUS)
発明者: TANIMOTO, Kazunori; null
OGASAWARA, Isao; null
YOSHIDA, Masahiro; null
KAWAMURA, Takehiko; null
TAKIZAWA, Hideaki; null
代理人: IKEUCHI SATO & PARTNER PATENT ATTORNEYS; 26th Floor, OAP TOWER 8-30, Tenmabashi 1-chome Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5306026, JP
優先権情報:
2008-06647914.03.2008JP
発明の名称: (EN) ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, DISPLAY DEVICE, METHOD FOR INSPECTING ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND METHOD FOR INSPECTING DISPLAY DEVICE
(FR) SUBSTRAT DE MATRICE ACTIVE, DISPOSITIF D'AFFICHAGE, PROCÉDÉ POUR INSPECTER UN SUBSTRAT DE MATRICE ACTIVE ET PROCÉDÉ POUR INSPECTER UN DISPOSITIF D'AFFICHAGE
(JA) アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
要約: front page image
(EN) Provided is an active matrix substrate having improved display qualities without forming an inspection wiring in a terminal arrangement region for inspecting a short-circuit between connecting wirings. A scanning wiring (40) includes a first scanning wiring having an input end for a scanning signal on one end side, and a second scanning wiring having an input end for a scanning signal on the other end side. In a display region (4), the first scanning wirings and the second scanning wirings are alternately formed one by one. An active matrix substrate (2) is provided with a first inspection wiring (70) and a second inspection wiring (72) which intersect with first connecting wirings (61), and a third inspection wiring (75) and a fourth inspection wiring (77) which intersect with second connecting wirings (64). The first to the fourth inspection wirings (70, 72, 75, 77) are formed in a frame wiring region (6), excluding a terminal arrangement region (5) and the display region (4).
(FR) L'invention concerne un substrat de matrice active ayant des qualités d'affichage améliorées sans former de câblage d'inspection dans une région d'agencement de terminal pour inspecter un court-circuit entre des câblages de connexion. Un câblage de balayage (40) comprend un premier câblage de balayage comportant une extrémité d'entrée pour un signal de balayage d'un premier côté d'extrémité, et un second câblage de balayage comportant une extrémité d'entrée pour un signal de balayage de l'autre côté d'extrémité. Dans une région d'affichage (4), les premiers câblages de balayage et les seconds câblages de balayage sont formés de manière alternée un par un. Un substrat de matrice active (2) est pourvu d'un premier câblage d'inspection (70) et d'un deuxième câblage d'inspection (72) qui coupent les premiers câblages de connexion (61) et un troisième câblage d'inspection (75) et un quatrième câblage d'inspection (77) qui coupent les seconds câblages de connexion (64). Les premier à quatrième câblages d'inspection (70, 72, 75, 77) sont formés dans une région de câblage de cadre (6), excluant une région d'agencement de terminal (5) et la région d'affichage (4).
(JA)  接続配線間の短絡を検査するための検査配線を端子配置領域に形成することなく、表示品質を向上できるアクティブマトリクス基板を提供する。走査配線(40)には、一端側に走査信号の入力端を有する第1走査配線と、他端側に走査信号の入力端を有する第2走査配線とを含み、かつ、表示領域(4)には、第1走査配線と第2走査配線とが、1本毎に交互に形成されている。アクティブマトリクス基板(2)は、複数の第1接続配線(61)のそれぞれと交差する第1検査配線(70)および第2検査配線(72)と、複数の第2接続配線(64)のそれぞれと交差する第3検査配線(75)および第4検査配線(77)とを備え、第1~4検査配線(70,72,75,77)は、端子配置領域(5)および表示領域(4)以外の額縁配線領域(6)に形成される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)