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1. (WO2009113128) 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/113128    国際出願番号:    PCT/JP2008/000575
国際公開日: 17.09.2009 国際出願日: 13.03.2008
IPC:
G01M 11/00 (2006.01)
出願人: NATIONAL INSTITUTE OF INFORMATION AND COMMUNICATIONS TECHNOLOGY [JP/JP]; 4-2-1 Nukui-Kitamachi, Koganei-shi, Tokyo, 1848795 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAWANISHI, Tetsuya [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
NAKAJIMA, Shinya [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SHINADA, Satoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAWANISHI, Tetsuya; (JP).
NAKAJIMA, Shinya; (JP).
SHINADA, Satoshi; (JP)
代理人: HIROSE, Takayuki; c/o Hirose International Patent Firm, The Royal Building 3F, 3-8-7 Irifune, Chuo-ku, Tokyo 1040042 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) METHOD FOR EVALUATING CHARACTERISTIC OF OPTICAL MODULATOR HAVING MACH-ZEHNDER INTERFEROMETERS
(FR) PROCÉDÉ POUR ÉVALUER UNE CARACTÉRISTIQUE DE MODULATEUR OPTIQUE AYANT DES INTERFÉROMÈTRES DE MACH-ZEHNDER
(JA) 複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法
要約: front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a method for evaluating characteristic of MZ interferometers in an optical modulator having a plurality of MZ interferometers. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] When an optical modulator includes a plurality of MZ interferometers, the 0-degree component contains a signal derived from an MZ interferometer other than the MZ interferometers for evaluating the characteristic. For this, it is impossible to accurately evaluate the characteristic of the MZ interferometers. The present invention does not use the 0-degree component normally having the highest intensity. That is, the characteristic of the MZ interferometers are evaluated by using a side band intensity of the component other than the 0-degree component.
(FR)L'invention vise à proposer un procédé pour évaluer une caractéristique d'interféromètres de MZ dans un modulateur optique ayant une pluralité d'interféromètres de MZ. Lorsqu'un modulateur optique comprend une pluralité d'interféromètres de MZ, la composante à 0 degré contient un signal issu d'un interféromètre de MZ autre que les interféromètres de MZ dont la caractéristique doit être évaluée. Pour cela, il est impossible d'évaluer précisément la caractéristique des interféromètres de MZ. La présente invention n'utilise pas la composante à 0 degré ayant normalement l'intensité la plus élevée. Autrement dit, la caractéristique des interféromètres de MZ est évaluée à l'aide d'une intensité de bande latérale de la composante autre que la composante à 0 degré.
(JA) 【課題】 本発明は,特に,複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供することを上記とは別の目的とする。  【解決手段】 光変調器が,複数のMZ干渉計を含む場合,0次成分は,特性を評価するMZ干渉計以外のMZ干渉計に由来する信号が含まれる。このため,MZ干渉計の特性を正確に評価できない。本発明では,通常,最も強度が高くなる0次成分をあえて特性の評価に用いない。すなわち,0次成分以外の成分のサイドバンド強度を用いて,MZ干渉計の特性を評価する。  
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)