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1. (WO2009093341) 検査方法及び検査装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/093341    国際出願番号:    PCT/JP2008/052560
国際公開日: 30.07.2009 国際出願日: 15.02.2008
IPC:
G01N 23/223 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01)
出願人: TOPPAN PRINTING CO., LTD. [JP/JP]; 5-1, Taito 1-chome, Taito-ku, Tokyo, 1100016 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SAITO, Junichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
CUI, Hailong [CN/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SAITO, Junichi; (JP).
CUI, Hailong; (JP)
優先権情報:
2008-010300 21.01.2008 JP
発明の名称: (EN) INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE RECHERCHE
(JA) 検査方法及び検査装置
要約: front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a method and an apparatus for inspecting a foreign material adhered on a substrate to be used for a liquid crystal display device from two perspectives of sizes and conductivity. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] Provided is a method for inspecting whether a metal element-containing foreign material is adhered on a substrate to be used for a liquid crystal display apparatus. The method is characterized in having a first inspection step of inspecting the sizes and the position of the foreign material adhered on the substrate, and a second inspection step of inspecting whether the foreign material contains a metal element, through alignment with the position detected in the first inspection step.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un appareil de recherche de corps étrangers adhérant à un substrat pour afficheur à cristaux liquides, en se basant sur les dimensions et la conductivité. À cet effet, l'invention propose un procédé de recherche de la présence de corps étrangers contenant un élément métallique et adhérant à un substrat pour appareil à écran à cristaux liquides. Le procédé est caractérisé en ce qu'il comporte une première étape d'examen consistant à établir les dimensions et l'emplacement du corps étranger adhérant au substrat, et une seconde étape d'examen consistant à établir si le corps étranger contient un élément métallique, et ce, par alignement sur la position détectée dans la première étape d'examen.
(JA)【課題】液晶表示装置用の基板に付着した異物を、その大きさと導電性との2つの観点から検査する方法および装置を提供する。 【解決手段】液晶表示装置用の基板に付着した金属元素含有異物の有無を検査する方法であって、前記基板に付着した異物の大きさと位置とを検出する第1検査ステップと、第1検査ステップで検出された位置に位置合わせして、その異物が金属元素を含有するか否かについて検査する第2検査ステップとを備えることを特徴とする検査方法。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)