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1. (WO2009090907) プローブカードおよびその製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/090907    国際出願番号:    PCT/JP2009/050131
国際公開日: 23.07.2009 国際出願日: 08.01.2009
IPC:
G01R 1/073 (2006.01)
出願人: ALPS ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 1-7, Yukigaya-otsukamachi, Ota-ku, Tokyo 1458501 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MURATA, Shinji [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MURATA, Shinji; (JP)
代理人: NAKAO, Shunsuke; c/o Nakao & Ito Patent Office 3-5, Uchikanda 1-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1010047 (JP)
優先権情報:
2008-007686 17.01.2008 JP
発明の名称: (EN) PROBE CARD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
(FR) CARTE SONDE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION CORRESPONDANT
(JA) プローブカードおよびその製造方法
要約: front page image
(EN)Provided is a probe card wherein probe pins having horizontal cantilever shapes, respectively, can be used at the time of inspecting continuity of an integrated circuit wherein a plurality of electrodes are disposed in grid arrangement. A method for manufacturing such probe card is also provided. In a probe card (1), a plurality of probe pins (3) respectively brought into contact with a plurality of electrodes (11) provided in grid arrangement on an integrated circuit (10) are arranged on a wiring board (2). The probe pins (3) are formed in horizontal cantilever shapes, respectively, and the probe pins (3) are arranged by being tilted with respect to both directions in a two-dimensional direction (X direction and Y direction) in the grid arrangement of the electrodes (11).
(FR)La présente invention concerne une carte sonde dans laquelle les palpeurs, qui présentent horizontalement chacun des formes en porte-à-faux, peuvent s'utiliser lors de l'examen de continuité d'un circuit électrique dans lequel les électrodes d'une pluralité d'électrodes sont disposées selon un plan en grille. L'invention concerne également un procédé de fabrication d'une telle carte sonde. Dans une telle carte sonde (1), les palpeurs de la pluralité de palpeurs (3) sont amenés chacun au contact des électrodes d'une pluralité d'électrodes (11) disposées selon un plan en grille sur un tableau de connexions (2). Les palpeurs (32), qui ont chacun une forme horizontale en porte-à-faux, se présentent inclinés dans le plan en grille des électrodes (11) par rapport au plan défini par les deux axes d'une orientation bidimensionnelle (axe des X et axe des Y).
(JA)【課題】複数の電極がグリッド配置された集積回路を導通検査する際に水平型カンチレバー形状のプローブピンを使用することができるプローブカードおよびその製造方法を提供する。 【解決手段】本発明のプローブカード1においては、集積回路10にグリッド配置された複数の電極11にそれぞれ接触する複数のプローブピン3を配線板2に備えている。複数のプローブピン3は、水平型カンチレバー形状にそれぞれ形成されており、複数の電極11のグリッド配置における2次元方向(X方向およびY方向)の両方向に対してプローブピン3を傾斜させて配置されている。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)