WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2009084581) X線検査装置およびX線検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/084581    国際出願番号:    PCT/JP2008/073587
国際公開日: 09.07.2009 国際出願日: 25.12.2008
IPC:
G01N 23/04 (2006.01)
出願人: OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokouji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MASUDA, Masayuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KATO, Noriyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SUGITA, Shinji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MATSUNAMI, Tsuyoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SASAKI, Yasushi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MASUDA, Masayuki; (JP).
KATO, Noriyuki; (JP).
SUGITA, Shinji; (JP).
MATSUNAMI, Tsuyoshi; (JP).
SASAKI, Yasushi; (JP)
代理人: FUKAMI, Hisao; Fukami Patent Office Nakanoshima Central Tower, 22nd Floor 2-7, Nakanoshima 2-chome Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
優先権情報:
2007-337572 27.12.2007 JP
2008-065187 14.03.2008 JP
発明の名称: (EN) X-RAY EXAMINING APPARATUS AND X-RAY EXAMINING METHOD
(FR) APPAREIL D'EXAMEN AUX RAYONS X ET PROCÉDÉ D'EXAMEN AUX RAYONS X
(JA) X線検査装置およびX線検査方法
要約: front page image
(EN)An X-ray examining apparatus for quickly examining a predetermined examination area of a subject to be examined. The X-ray examining apparatus (100) comprises a scanning X-ray source (10) for outputting X-rays, an X-ray detector drive unit (22) to which X-ray detectors (23) are attached and which independently drives the X-ray detectors (23), and an image acquisition control mechanism (30) for controlling acquisition of image data from the X-ray detector drive unit (22) and the X-ray detectors (23). The scanning X-ray source (10) emits X-rays while moving the X-ray focal point of the X-ray source to the originating positions of X-ray emission determined so that the X-rays are transmitted through the predetermined examination area of the subject (20) and enter the X-ray detectors (23). The imaging by using a part of the X-ray detectors (23) and the movement to the imaging positions of other X-ray detectors (23) are parallel and alternately carried out. The image acquisition control mechanism (30) acquires the image data detected by the X-ray detectors (23), and a computing unit (70) reconstructs an image of the examination area by using the image data.
(FR)L'invention porte sur un appareil d'examen aux rayons X pour examiner rapidement une zone d'examen prédéterminée d'un sujet devant être examiné. L'appareil d'examen aux rayons X (100) comprend une source de rayons X de balayage (10) pour émettre des rayons X, une unité d'entraînement de détecteur de rayons X (22) à laquelle des détecteurs de rayons X (23) sont fixés et qui entraîne indépendamment les détecteurs de rayons X (23), et un mécanisme de commande d'acquisition d'image (30) pour commander l'acquisition de données d'image à partir de l'unité d'entraînement de détecteur de rayons X (22) et des détecteurs de rayons X (23). La source de rayons X de balayage (10) émet des rayons X tout en déplaçant le point focal de rayons X de la source de rayons X vers les positions d'origine d'une émission de rayons X déterminée de telle sorte que les rayons X sont transmis à travers la zone d'examen prédéterminée de l'objet (20) et entrent dans les détecteurs de rayons X (23). L'imagerie à l'aide d'une partie des détecteurs de rayons X (23) et le mouvement vers les positions d'imagerie d'autres détecteurs de rayons X (23) sont parallèles et réalisés de façon alternée. Le mécanisme de commande d'acquisition d'image (30) acquiert les données d'image détectées par les détecteurs de rayons X (23), et une unité de calcul (70) reconstruit une image de la zone d'examen à l'aide des données d'image.
(JA) 検査対象物の所定の検査エリアを高速に検査することができるX線検査装置を提供する。X線検査装置(100)は、X線を出力する走査型X線源(10)と、複数のX線検出器(23)が取り付けられ、複数のX線検出器(23)を独立に駆動可能なX線検出器駆動部(22)と、X線検出器駆動部(22)やX線検出器(23)からの画像データの取得を制御するための画像取得制御機構(30)を備える。走査型X線源(10)は、各X線検出器(23)について、X線が検査対象(20)の所定の検査エリアを透過して各X線検出器(23)に対して入射するように設定されたX線の放射の起点位置の各々に、X線源のX線焦点位置を移動させてX線を放射する。X線検出器(23)の一部についての撮像と他の一部についての撮像位置への移動が並行して交互に実行される。画像制御取得機構(30)はX線検出器(23)が検出した画像データを取得し、演算部(70)はその画像データに基づき検査エリアの画像の再構成を行なう。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)