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1. (WO2009084534) 磁気ディスク用ガラス基板、磁気ディスク、及び磁気ディスクの製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/084534    国際出願番号:    PCT/JP2008/073418
国際公開日: 09.07.2009 国際出願日: 24.12.2008
IPC:
G11B 5/73 (2006.01), G11B 5/84 (2006.01)
出願人: HOYA CORPORATION [JP/JP]; 7-5, Naka-Ochiai 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1618525 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KITSUNAI, Kouji [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MAEDA, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KITSUNAI, Kouji; (JP).
MAEDA, Takashi; (JP)
代理人: IKEDA, Noriyasu; Hibiya Daibiru Bldg., 2-2 Uchisaiwaicho 1-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1000011 (JP)
優先権情報:
2007-338966 28.12.2007 JP
2007-338967 28.12.2007 JP
発明の名称: (EN) MAGNETIC DISK GLASS SUBSTRATE, MAGNETIC DISK, AND MAGNETIC DISK MANUFACTURING METHOD
(FR) SUBSTRAT EN VERRE POUR DISQUE MAGNÉTIQUE, DISQUE MAGNÉTIQUE, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE DISQUE MAGNÉTIQUE
(JA) 磁気ディスク用ガラス基板、磁気ディスク、及び磁気ディスクの製造方法
要約: front page image
(EN)Of the surface shapes of two individual regions selected arbitrarily on the surface of a glass substrate closer to the central portion than an outer circumference end, the surface shape having a shape wavelength of a band of 60 to 500 &mgr;m is extracted. Provided is a magnetic disk glass substrate, in which the difference of a fine swell (Rq) of that region is 0.02 nm or less or in which the difference of the standard deviation of the fine swell (Rq) of that region is 0.04 nm or less, if the root mean square value roughness (Rq) of the extracted surface shape is made into the fine swell (Rq).
(FR)A partir de formes de surface de deux régions individuelles sélectionnées de manière arbitraire sur la surface d'un substrat en verre plus proches de la partie centrale qu'une extrémité de la circonférence extérieure, la forme de surface qui présente une longueur d'onde de forme qui se situe dans une bande comprise entre 60 &mgr;m et 500 µm, est extraite. On fournit un substrat en verre pour disque magnétique, dans lequel la différence d'une fine protubérance (Rq) de cette région est égale à 0,02 nm, voire moins, ou dans lequel la différence de l'écart type de la fine protubérance (Rq) de cette région est égale à 0,04 nm, voire moins, si la rugosité effective (Rq) de la forme de surface extraite est transformée en fine protubérance (Rq).
(JA)ガラス基板の外周端よりも中心部側の表面で任意に2箇所選択した各領域において、各領域における表面形状のうち、形状波長が60~500μm帯域の表面形状を抽出し、この表面形状の二乗平均平方根粗さRqを微小うねりRqとしたときに、前記各領域の微小うねりRqの差が0.02nm以下あるいは前記各領域の微小うねりRqの標準偏差の差が0.04nm以下である磁気ディスク用ガラス基板。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)