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1. (WO2009081866) パターン間特徴対応付け装置及びそれに用いるパターン間特徴対応付け方法並びにそのプログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/081866    国際出願番号:    PCT/JP2008/073204
国際公開日: 02.07.2009 国際出願日: 19.12.2008
IPC:
G06T 7/00 (2006.01), A61B 5/117 (2006.01)
出願人: NEC Corporation [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP) (米国を除く全ての指定国).
LEI, Huang [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: LEI, Huang; (JP)
代理人: MARUYAMA, Takao; MARUYAMA PATENT OFFICE SAM Build. 3floor 38-23, Higashi-Ikebukuro 2-chome Toshima-ku, Tokyo 1700013 (JP)
優先権情報:
2007-333390 26.12.2007 JP
発明の名称: (EN) INTER-PATTERN FEATURE CORRESPONDING DEVICE, INTER-PATTERN FEATURE CORRESPONDING METHOD USED FOR THE SAME, AND PROGRAM THEREFOR
(FR) DISPOSITIF DE MISE EN CORRESPONDANCE DE CARACTÉRISTIQUES ENTRE MOTIFS, PROCÉDÉ DE MISE EN CORRESPONDANCE DE CARACTÉRISTIQUES ENTRE MOTIFS UTILISÉ POUR CELUI-CI, ET PROGRAMME S'Y RAPPORTANT
(JA) パターン間特徴対応付け装置及びそれに用いるパターン間特徴対応付け方法並びにそのプログラム
要約: front page image
(EN)An inter-pattern feature corresponding device (1) for determining a feature correspondence relationship with high accuracy even if a pattern to be collated has distortion. The inter-pattern feature corresponding device (1) includes a means (11) for generating a proximity feature point group in which the feature points are positionally proximate to each other in a pattern and a location relationship numeric number group indicating the location relationship between the feature points of the proximity feature point group as feature point group locations, a means (12) for comparing the generated location relationship numeric numbers to detect the corresponding feature point group location candidates, a means (13) for comparing the location relationship numeric numbers between a feature point of each feature point group location of the corresponding feature point group location candidates and feature points which are proximate to the feature point group locations, adding the corresponding proximity feature points to the corresponding feature point group location candidates, and updating the corresponding feature point group location candidates, a means (14) for examining the associated corresponding feature point candidates of the updated corresponding feature point group location candidates to set the associated corresponding feature points of the corresponding feature point group location candidates, and a means (15) for examining the corresponding feature point group location candidates to set inter-pattern corresponding feature points.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mise en correspondance de caractéristiques entre motifs (1) pour déterminer avec grande précision une relation de correspondance de caractéristiques, même si un motif à assembler présente une distorsion. Le dispositif de mise en correspondance de caractéristiques entre motifs (1) comprend un moyen (11) pour produire un groupe de points caractéristiques de proximité dans lequel les points caractéristiques sont positionnellement proches les uns des autres dans un motif et un groupe de nombres numériques de relation de position indiquant la relation de position entre les points caractéristiques du groupe de points caractéristiques à proximité comme des positions du groupe de points caractéristiques, un moyen (12) pour comparer les nombres numériques de relation de position produits afin de détecter les positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants, un moyen (13) pour comparer les nombres numériques de relation de position entre un point caractéristique de chaque position de groupe de points caractéristiques des positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants et des points caractéristiques qui sont proches des positions de groupes de points caractéristiques, pour ajouter les points caractéristiques à proximité correspondants aux positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants, et pour actualiser les positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants, un moyen (14) pour examiner les candidats de points caractéristiques correspondants associés des positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants actualisés pour définir les points caractéristiques correspondants associés des positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants, et un moyen (15) pour examiner les positions candidates de groupes de points caractéristiques correspondants afin de définir des points caractéristiques correspondants entre motifs.
(JA) 被照合パターンに歪みがあっても特徴対応関係を精度よく決定するためのパターン間特徴対応付け装置(1)であり、パターン内の位置的に近接する近接特徴点群と近接特徴点群の特徴点間の配置関係を表わす配置関係数値群とを特徴点群配置として生成する手段(11)と、生成された配置関係数値を比較して対応する対応特徴点群配置候補を検出する手段(12)と、対応特徴点群配置候補の各特徴点群配置の特徴点と当該特徴点群配置に近接する特徴点との配置関係数値を比較して対応する近接特徴点を対応特徴点群配置候補に追加しかつ前記対応特徴点群配置候補を更新する手段(13)と、更新された対応特徴点群配置候補の付随する対応特徴点候補を検査して対応特徴点群配置候補の付随する対応特徴点を定める手段(14)と、対応特徴点群配置候補を検査してパターン間の対応特徴点を定める手段(15)とを有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)