処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

出願の表示

1. WO2009054193 - 光スペクトラムアナライザ

公開番号 WO/2009/054193
公開日 30.04.2009
国際出願番号 PCT/JP2008/066064
国際出願日 05.09.2008
IPC
G01J 3/12 2006.01
G物理学
01測定;試験
J赤外線,可視光線または紫外線の強度,速度,スペクトル,偏光,位相またはパルスの測定;色の測定;放射温度測定
3分光測定;分光光度測定;モノクロメータ;色の測定
12スペクトルの発生;モノクロメータ
CPC
G01M 11/3172
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
31with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
3172Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection
G01M 11/333
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
33with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
333using modulated input signals
G01M 11/335
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
33with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
335using two or more input wavelengths
出願人
  • 株式会社村田製作所 Murata Manufacturing Co., Ltd. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 山田清和 YAMADA, Kiyokazu [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 小林英晃 KOBAYASHI, Hideaki [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 山田清和 YAMADA, Kiyokazu
  • 小林英晃 KOBAYASHI, Hideaki
代理人
  • 小森久夫 KOMORI, Hisao
優先権情報
2007-27932226.10.2007JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (JA)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) OPTICAL SPECTRUM ANALYZER
(FR) ANALYSEUR DE SPECTRE OPTIQUE
(JA) 光スペクトラムアナライザ
要約
(EN)
An optical spectrum analyzer is formed by providing an optical waveguide, a SAW waveguide for propagating an acoustic surface wave to convert the mode of light propagated through the optical waveguide, and an IDT for exciting the acoustic surface wave propagated through the SAW waveguide on a substrate and includes an acousto-optic tunable filter (AOTF) which light from a broadband light source enters and which causes emitted light to enter a device under test (DUT). The optical spectrum analyzer is provided with the device under test (DUT) between the acousto-optic tunable filter (AOTF) and a light receiver and obtains the optical spectrum of the device under test (DUT) from the relation between a high-frequency signal of the acousto-optic tunable filter (AOTF) to be sent to the IDT and a light-receiving signal intensity of the light receiver. The low-cost optical spectrum analyzer for measuring the spectrum of transmitted light or reflected light of the device under test can be obtained by this constitution. Multichannel measurement is possible without reducing the measuring speed.
(FR)
L'analyseur de spectre optique de l'invention est formé d'un guide d'onde optique, d'un guide d'onde SAW servant à propager une onde acoustique de surface pour convertir le mode de lumière propagé par le guide d'onde optique et d'un IDT pour exciter l'onde acoustique de surface propagée par le guide d'onde SAW sur un substrat. L'analyseur comprend un filtre passe-bande acousto-optique (AOTF) dans lequel entre une lumière provenant d'une source de lumière à bande large et qui fait entre la lumière émise dans un dispositif à tester (DUT). Le dispositif à tester (DUT) est placé dans l'analyseur de spectre optique entre le filtre passe-bande acousto-optique (AOTF) et un photorécepteur, et le spectre optique du dispositif à tester (DUT) est obtenu à partir de la relation entre un signal à haute fréquence du filtre passe-bande acousto-optique (AOTF) envoyé à l'IDT et une intensité de signal de réception de lumière du photorécepteur. Un analyseur de spectre optique économique permettant de mesurer le spectre de lumière transmise ou de lumière réfléchie du dispositif à tester peut être obtenu par cette construction. Une mesure multicanal est possible sans réduire la vitesse de la mesure.
(JA)
 光導波路と、弾性表面波を伝搬して光導波路を伝搬する光のモードを変換するSAW導波路と、該SAW導波路を伝搬する弾性表面波を励振するIDTと、を基板に設けてなり、広帯域光源からの光を入射し、出射光を被測定対象物(DUT)に入射させる音響光学波長可変フィルタ(AOTF)を備え、この音響光学波長可変フィルタ(AOTF)と受光器とに間に被測定対象物(DUT)を設け、音響光学波長可変フィルタ(AOTF)のIDTに対する高周波信号と前記受光器の受光信号強度との関係を基に被測定対象物(DUT)の光スペクトラムを求める。この構成により、被測定物体の透過光または反射光のスペクトラムを測定する低コストな光スペクトラムアナライザを得る。また、測定スピードを低下させることなく多チャンネルでの測定を可能とする。
国際事務局に記録されている最新の書誌情報