処理中

しばらくお待ちください...

設定

設定

出願の表示

1. WO2009044658 - 放射線検出器

公開番号 WO/2009/044658
公開日 09.04.2009
国際出願番号 PCT/JP2008/067197
国際出願日 24.09.2008
IPC
G01T 1/20 2006.1
G物理学
01測定;試験
T原子核放射線またはX線の測定
1X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定
16放射線強度の測定
20シンチレーション検出器をもつもの
G01N 23/04 2006.1
G物理学
01測定;試験
N材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
23グループG01N3/00~G01N17/00,G01N21/00またはG01N22/00に包含されない波動性または粒子性放射線,例.X線,中性子線,の使用による材料の調査または分析
02放射線の材料透過によるもの
04さらに材料の画像を形成するもの
CPC
G01N 23/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
G01T 1/2008
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16Measuring radiation intensity
20with scintillation detectors
2008using a combination of different types of scintillation detectors, e.g. phoswich
出願人
  • 浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 瀧日 真二 TAKIHI, Shinji [JP]/[JP] (UsOnly)
発明者
  • 瀧日 真二 TAKIHI, Shinji
代理人
  • 長谷川 芳樹 HASEGAWA, Yoshiki
優先権情報
2007-25796101.10.2007JP
公開言語 (言語コード) 日本語 (ja)
出願言語 (言語コード) 日本語 (JA)
指定国 (国コード)
発明の名称
(EN) RADIATION DETECTOR
(FR) DÉTECTEUR DE RAYONNEMENTS
(JA) 放射線検出器
要約
(EN) In an X-ray line sensor (1), a scintillator layer (24) absorbing X-rays in a low energy range for light emission is in contact with a scintillator layer (26) absorbing X-rays in a high energy range for light emission, and the scintillator layer (24) which is on a front side is smaller in thickness than the scintillator layer (26) on a rear side. Accordingly, an amount of mismatch between a light emitting position (P1) in the scintillator layer (24) and a light emitting position (P2) in the scintillator layer (26) would be smaller for an X-ray in the low energy range and an X-ray in the high energy range incident on the front side at a same angle, so that a light emitted from the scintillator layer (24) and a light emitted from the scintillator layer (26) will be detected by a light-detecting section (16) and a light-detecting section (23) facing each other. Accordingly, any mismatch may be prevented between an X-ray transmission image of the low energy range and an X-ray transmission image of the high energy range that are obtained simultaneously.
(FR) Selon l'invention, dans un détecteur de lignes de rayons X (1), une couche de scintillateur (24) absorbant des rayons X dans une gamme de basse énergie pour émettre de la lumière vient au contact d'une couche de scintillateur (26) absorbant des rayons X dans une gamme de haute énergie pour émettre de la lumière, l'épaisseur de la couche de scintillateur (24) située sur un côté avant étant plus mince que celle de la couche de scintillateur (26) située sur un côté arrière. Ainsi, une valeur de décalage entre une position d'émission de lumière (P1) sur la couche de scintillateur (24) et une position d'émission de lumière (P2) sur la couche de scintillateur (26) serait plus faible pour un rayon X présent dans la gamme de basse énergie et pour un rayon X présent dans la gamme de haute énergie et projetés sur le côté avant par un même angle, si bien que la lumière émise de la couche de scintillateur (24) et la lumière émise de la couche de scintillateur (26) sont détectées par une section de détection de lumière (16) et une section de détection de lumière (23) qui se font face. On empêche ainsi tout décalage entre une image de transmission des rayons X dans la gamme de basse énergie et une image de transmission des rayons X dans la gamme de haute énergie, qui sont obtenues simultanément.
(JA)  X線ラインセンサ1では、低エネルギ範囲のX線を吸収して光を発するシンチレータ層24と、高エネルギ範囲のX線を吸収して光を発するシンチレータ層26とが接触させられており、更に、後側のシンチレータ層26の厚さよりも、前側のシンチレータ層24の厚さが薄くなっている。これらにより、同じ角度で前側から入射した低エネルギ範囲のX線及び高エネルギ範囲のX線に対するシンチレータ層24での発光位置P1とシンチレータ層26での発光位置P2とのずれ量が小さくなるため、このとき、シンチレータ層24が発した光及びシンチレータ層26が発した光は、対向する光検出部16及び光検出部23によって検出されることになる。従って、同時に取得された低エネルギ範囲のX線透過像と高エネルギ範囲のX線透過像とがずれるのを防止することができる。
関連特許文献
国際事務局に記録されている最新の書誌情報