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1. (WO2009028040) 試験装置および製造方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2009/028040    国際出願番号:    PCT/JP2007/066566
国際公開日: 05.03.2009 国際出願日: 27.08.2007
IPC:
G01R 31/319 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
WATANABE, Naoyoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: WATANABE, Naoyoshi; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) TESTER AND MANUFACTURING METHOD
(FR) APPAREIL DE TE ST ET PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 試験装置および製造方法
要約: front page image
(EN)A tester for testing a device under test comprises a main period generating section for generating a main period signal indicating a test period, a sub-period generating section for generating a sub-period signal indicating a sub-period in which the test period is divided for each test period, a level comparator for comparing an output signal outputted from the device under test with a threshold to output a comparison signal expressing the logical value according to the result of the comparison, a window period specifying section for specifying a plurality of window periods indicating different phase ranges during the test period on the basis of the sub-period signal, and a window timing comparing section for detecting whether or not the comparison signal reaches a predetermined logical value in each of the window periods.
(FR)L'invention porte sur un appareil de test pour tester un dispositif à tester, lequel appareil comprend une section de génération de période principale pour générer un signal de période principale indiquant une période de test, une section de génération de sous-période pour générer un signal de sous-période indiquant une sous-période dans laquelle la période de test est divisée pour chaque période de test, un comparateur de niveau pour comparer un signal de sortie délivré en sortie du dispositif à tester avec un seuil afin de délivrer en sortie un signal de comparaison exprimant la valeur logique conforme au résultat de la comparaison, une section de spécification de période de fenêtre pour spécifier une pluralité de périodes de fenêtre indiquant des plages de phase différentes durant la période de test en fonction du signal de sous-période, et une section de comparaison de temporisation de fenêtre pour détecter si oui ou non le signal de comparaison atteint une valeur logique prédéterminée dans chacune des périodes de fenêtre.
(JA) 被試験デバイスを試験する試験装置であって、試験周期を示すメイン周期信号を発生するメイン周期発生部と、試験周期毎に試験周期を分割したサブ周期を示すサブ周期信号を発生するサブ周期発生部と、被試験デバイスから出力された出力信号を閾値と比較して、比較結果に応じた論理値を表す比較信号を出力するレベルコンパレータと、サブ周期信号を基準として、試験周期中の異なる位相範囲を示す複数のウィンドウ期間を指定するウィンドウ期間指定部と、複数のウィンドウ期間のそれぞれにおいて比較信号が所定論理値となったか否かを検出するウィンドウタイミング比較部とを備える試験装置を提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)