WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2008143198) 外観検査システム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/143198    国際出願番号:    PCT/JP2008/059090
国際公開日: 27.11.2008 国際出願日: 18.05.2008
IPC:
G01N 21/956 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01)
出願人: MEGA TRADE CORP [JP/JP]; Dangawara-cho 5, Takeda, Fushimi-ku, Kyoto-city Kyoto 6128414 (JP) (米国を除く全ての指定国).
SASAI, Masatoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: SASAI, Masatoshi; (JP)
代理人: KURU, Toru; 550-2, Honeyano-cho, Rokkaku-sagaru Tominokoji-dori, Nakagyo-ku Kyoto-shi Kyoto 6048064 (JP)
優先権情報:
2007-132950 18.05.2007 JP
発明の名称: (EN) APPEARANCE INSPECTION SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION D'UN ASPECT
(JA) 外観検査システム
要約: front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a system that does not require drastic remaking of a program even when a judgment method, a display method, and the like are changed and also does not require drastic remaking of a program even when an inspection is performed by an inspection apparatus having a plurality of processors. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] In an appearance inspection system (1) for inspecting the forming state of a printed circuit board (3), a reference data storage means (17a) stores reference image data and a core processing means (21) reads the reference image data. When receiving a read request for the reference image data from a plurality of judgment means (22) for judging the forming state of the printed circuit board (3), judgment means (22a, 22b) generate corresponding reference data based on their own judgment programs and judges, using the corresponding reference data and an inspected image, whether the forming state is good or not. This judgment result is then sent to the core processing means (21) and stored in a judgment result storage means (17b).
(FR)La présente invention concerne un système qui ne nécessite pas la reconfiguration drastique d'un programme même si un procédé d'évaluation, un procédé d'affichage et autres sont modifiés et ne nécessite pas non plus de reconfiguration drastique d'un programme même si une inspection est réalisée par un appareil d'inspection ayant une pluralité de processeurs. Dans un système d'inspection d'un aspect (1) pour inspecter l'état de formation d'une carte de circuit imprimé (3), un moyen de stockage de données de référence (17a) stocke des données d'image de référence et un moyen de traitement central (21) lit les données d'image de référence. Lorsqu'il reçoit un ordre de lecture des données d'image de référence d'une pluralité de moyens d'évaluation (22) pour évaluer l'état de formation de la carte de circuit imprimé (3), le moyen d'évaluation (22a, 22b) génère des données de référence correspondantes basées sur ses propres programmes d'évaluation et évalue, en utilisant les données de référence correspondantes et une image inspectée, si l'état de formation est bon ou non. Cette évaluation est ensuite envoyée au moyen de traitement central (21) et stockée dans un moyen de stockage des résultats d'évaluation (17b).
(JA)【課題】判定方法や表示方法などが変更された場合であっても、大きくプログラムを作り直す必要がなく、また、複数のプロセッサーを有する検査装置で検査する場合であっても大きくプログラムを作り直す必要のないシステムを提供する。 【解決手段】プリント基板3の形成状態を検査する外観検査システム1において、まず、基準データ記憶手段17aに基準画像データを格納しておき、コア処理手段21は、この基準画像データの読み出しを行う。そして、プリント基板3の形成状態を判定する複数の判定手段22から基準画像データの読み出し要求があると、判定手段22a、22bは、独自の判定プログラムに基づいて対応基準データを生成し、その対応基準データと被検査画像を用いて形成状態の良否の判定を行う。そして、その判定結果を、コア処理手段21に送信し、判定結果記憶手段17bに格納する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)