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1. (WO2008139579) 電子部品試験装置、電子部品試験システム及び電子部品の試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/139579    国際出願番号:    PCT/JP2007/059597
国際公開日: 20.11.2008 国際出願日: 09.05.2007
IPC:
G01R 31/26 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
ITO, Akihiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KOBAYASHI, Yoshihito [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: ITO, Akihiko; (JP).
KOBAYASHI, Yoshihito; (JP)
代理人: TOKOSHIE PATENT FIRM; Hoshino Dai-ichi Bldg. 8-3, Nishishinjuku 8-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) ELECTRONIC PART TESTING APPARATUS, ELECTRONIC PART TESTING SYSTEM AND METHOD OF TESTING ELECTRONIC PART
(FR) APPAREIL DE VÉRIFICATION DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES, SYSTÈME DE VÉRIFICATION DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES, ET PROCÉDÉ DE VÉRIFICATION DE COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES
(JA) 電子部品試験装置、電子部品試験システム及び電子部品の試験方法
要約: front page image
(EN)An electronic part testing apparatus, comprising first inverting unit (220) adapted to, immediately before testing of IC device, piling customer tray (5) and contact plate (6A) dedicated to testing one upon the other and inverting them to thereby transfer the IC device from the customer tray (5) to the contact plate (6A); and press unit (250) adapted to, in testing of the IC device, press the IC device against socket (41) of test head (4) in the state of the IC device being held by the contact plate (6A).
(FR)La présente invention se rapporte à un appareil de vérification de composants électroniques qui comprend : un premier module inverseur (220) qui est adapté pour - immédiatement avant la vérification d'un dispositif à circuit intégré - empiler un chariot client (5) et une plaque de contact (6A), et qui est prévu pour vérifier les composants l'un sur l'autre et pour les inverser de façon à transférer ainsi le dispositif à circuit intégré du chariot client (5) vers la plaque de contact (6A) ; et un module de pressage qui est adapté pour - lors de la vérification du dispositif à circuit intégré - presser le dispositif à circuit intégré contre lesupport (41) d'une tête d'essai (4) dans l'état où le dispositif à circuit intégré est maintenu par la plaque de contact (6A).
(JA)電子部品試験装置は、ICデバイスのテストを行う直前に、カスタマトレイ(5)と試験専用のコンタクトプレート(6A)とを重ね合わせて反転させて、カスタマトレイ(5)からコンタクトプレート(6A)にICデバイスを移し替える第1の反転装置(220)と、ICデバイスをテストする際に、コンタクトプレート(6A)にICデバイスを保持した状態で、ICデバイスをテストヘッド(4)のソケット(41)に押し付ける押圧装置(250)と、を備えている。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)