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1. (WO2008139517) 光子検出器の弁別パラメータ算出方法及びそれを用いた核医学診断装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/139517    国際出願番号:    PCT/JP2007/059179
国際公開日: 20.11.2008 国際出願日: 27.04.2007
IPC:
G01T 1/161 (2006.01), G01T 1/20 (2006.01)
出願人: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP) (米国を除く全ての指定国).
OHTANI, Atsushi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: OHTANI, Atsushi; (JP)
代理人: SUGITANI, Tsutomu; Nishitenma No.11 Matsuya Bldg., 10-8, Nishitenma 1-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300047 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) DISCRIMINATORY PARAMETER CALCULATING METHOD FOR PHOTON DETECTOR AND NUCLEAR MEDICAL DIAGNOSTIC DEVICE USING SAME
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL DE PARAMÈTRES DISCRIMINANTS POUR UN DÉTECTEUR DE PHOTONS ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC MÉDICAL NUCLÉAIRE L'UTILISANT
(JA) 光子検出器の弁別パラメータ算出方法及びそれを用いた核医学診断装置
要約: front page image
(EN)A discriminatory parameter calculating method for a photon detector applies two kinds of fitting functions that approximate a waveform of a count number for an energy ratio to data storing an output waveform signal as a subject, calculates fitting parameters for both fitting functions, seeks count numbers that are 1/n of peaks of both fitting functions based on the fitting parameters and calculates energy ratios of both fitting functions corresponding to the count numbers as discriminatory parameters (k). With this, even if a first photon detecting element (35) and a second photon detecting element (37) are in any circumstances, after fitting is carried out by the fitting functions, the discriminatory parameters (k) are automatically calculated in accordance with the fitting parameters, so that the discriminatory parameter can be calculated with high accuracy. Therefore, the discriminatory parameter (k) that can sufficiently take out performance of a photon detector (17) can be obtained rather easily.
(FR)L'invention concerne procédé de calcul de paramètres discriminants pour un détecteur de photons. Ce procédé applique deux types de fonctions de lissage qui rapprochent une forme d'onde d'un taux de comptage pour un rapport énergétique et des données mémorisant un signal de forme d'onde de sortie à titre d'objet d'étude, calcule les paramètres de lissage pour les deux fonctions de lissage, recherche les taux de comptage qui sont égaux à 1/n des crêtes des deux fonctions de lissage sur la base des paramètres de lissage et calcule les rapports énergétiques des deux fonctions de lissage correspondant aux taux de comptage à titre de paramètres discriminants (k). De cette manière, même si un premier élément de détection de photons (35) et un deuxième élément de détection de photons (37) se trouvent dans des situations particulières, après un lissage par les fonctions de lissage, les paramètres discriminants (k) sont automatiquement calculés en fonction des paramètres de lissage, de sorte que les paramètres discriminants peuvent être calculés avec une grande précision. Il est donc possible d'obtenir assez facilement les paramètres discriminants (k) susceptibles d'exploiter suffisamment les performances d'un détecteur de photons (17).
(JA) 本発明の光子検出器の弁別パラメータ算出方法は、出力波形信号を蓄積したデータを対象にして、エネルギーレシオに対するカウント数の波形を近似する二種類のフィッティング関数を適用し、両フィッティング関数のフィッティングパラメータを算出し、両フィッティングパラメータに基づいて、両フィッティング関数のピークの1/nとなるカウント数を求めるとともに、そのカウント数に対応する両フィッティング関数のエネルギーレシオの値を弁別パラメータkとして算出する。このように第1の光子検出素子35及び第2の光子検出素子37がどのようなものであっても、フィッティング関数でフィッティングした後に、フィッティングパラメータに基づいて弁別パラメータkを自動的に算出するので、高精度で弁別パラメータを算出することができる。したがって、光子検出器17の性能を充分に引き出すことができる弁別パラメータkを比較的容易に求めることができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)