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1. (WO2008133238) 試験装置および試験方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/133238    国際出願番号:    PCT/JP2008/057710
国際公開日: 06.11.2008 国際出願日: 21.04.2008
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01), G01R 29/02 (2006.01), H03K 5/156 (2006.01)
出願人: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (米国を除く全ての指定国).
WATANABE, Daisuke [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
OKAYASU, Toshiyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: WATANABE, Daisuke; (JP).
OKAYASU, Toshiyuki; (JP)
代理人: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
優先権情報:
2007-114637 24.04.2007 JP
発明の名称: (EN) TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 試験装置および試験方法
要約: front page image
(EN)A testing apparatus for testing a device to be tested is provided with a pattern generating section for generating a test pattern having a test signal to be supplied to the device to be tested; a timing signal generating section for generating a timing signal indicating timing for supplying the test signal to the device to be tested; a digital filter which filters the test pattern and outputs a jitter control signal indicating jitter corresponding to the test pattern; a jitter applying section for applying jitter to the timing signal by delaying the timing signal corresponding to the jitter control signal; and a waveform shaping section for generating a test signal by shaping the test pattern by having the timing signal to which the jitter is applied as reference.
(FR)La présente invention concerne un appareil de test pour tester un dispositif à tester, muni d'une section génératrice de motif pour générer un motif de test ayant un signal de test à fournir au dispositif à tester, d'une section de génération de signal de minutage pour générer un signal de minutage indiquant le minutage pour fournir le signal de test au dispositif à tester, d'un filtre numérique qui filtre le motif de test et produit un signal de commande de gigue indiquant la gigue correspondant au meilleur motif, d'une section d'application de gigue pour appliquer une gigue au signal de minutage en retardant le signal de minutage correspondant au signal de commande de gigue, ainsi que d'une section de façonnage de forme d'onde pour générer un signal de test en façonnant le motif en test, en amenant le signal de minutage auquel s'applique la gigue en matière de référence.
(JA) 被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに供給すべき試験信号を定めた試験パターンを発生するパターン発生部と、被試験デバイスに試験信号を供給するタイミングを示すタイミング信号を発生するタイミング信号発生部と、試験パターンをフィルタリングして、試験パターンに応じたジッタを表すジッタ制御信号を出力するデジタルフィルタと、ジッタ制御信号に応じてタイミング信号を遅延することにより、タイミング信号にジッタを印加するジッタ印加部と、ジッタが印加されたタイミング信号を基準として、試験パターンを成形した試験信号を生成する波形成形部とを備える試験装置を提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)