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1. (WO2008133235) 2次元パターンのマッチング方法、特徴抽出方法、これらに用いる装置及びプログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/133235    国際出願番号:    PCT/JP2008/057689
国際公開日: 06.11.2008 国際出願日: 21.04.2008
IPC:
G06T 7/00 (2006.01)
出願人: NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku Tokyo 1088001 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAMEI, Toshio [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAMEI, Toshio; (JP)
代理人: KUDOH, Minoru; 6F, KADOYA BLDG., 24-10, Minamiooi 6-chome, Shinagawa-ku Tokyo 1400013 (JP)
優先権情報:
2007-113264 23.04.2007 JP
発明の名称: (EN) TWO-DIMENSIONAL PATTERN MATCHING METHOD, FEATURE EXTRACTION METHOD, AND DEVICE AND PROGRAM USED FOR THESE METHODS
(FR) PROCÉDÉ D'APPARIEMENT DE MOTIFS BIDIMENSIONNELS, PROCÉDÉ D'EXTRACTION DE CARACTÉRISTIQUES, ET DISPOSITIF ET PROGRAMME UTILISÉS POUR CES PROCÉDÉS
(JA) 2次元パターンのマッチング方法、特徴抽出方法、これらに用いる装置及びプログラム
要約: front page image
(EN)A two-dimensional pattern matching method includes a step of extracting reference feature data by projecting the vector expression of either an input reference two-dimensional pattern or a converted reference two-dimensional pattern to a feature space, the converted reference two-dimensional pattern being generated by converting the input reference two-dimensional pattern. A pre-registered registered feature data and the reference feature data are back-projected to a two-dimensional pattern expression space having the dimension of the vector expression to calculate the degree of similarity. This provides a matching technique having a small data size of the feature amount and robust to displacement and image distortion.
(FR)L'invention concerne un procédé d'appariement de motifs bidimensionnels qui inclut une étape consistant à extraire des données de caractéristiques de référence en projetant l'expression vectorielle soit d'un motif bidimensionnel de référence d'entrée soit d'un motif bidimensionnel de référence converti sur un espace de caractéristique, le motif bidimensionnel de référence converti étant généré en convertissant le motif bidimensionnel de référence d'entrée. Des données préenregistrées de caractéristiques enregistrées et les données des caractéristiques de référence rétro-projetées sur un espace d'expression de motif bidimensionnel ayant la dimension de l'expression vectorielle pour calculer le degré de similarité. Ceci fournit une technique d'appariement ayant une petite taille de données de la quantité de caractéristiques et résistante au déplacement et à la déformation des images.
(JA) 2次元パターンのマッチング方法は、入力した照会2次元パターンとその照会2次元パターンを変換することにより生成される変換照会2次元パターンとのいずれかのベクトル表現を特徴空間へ射影することにより照会特徴データを抽出する工程を含む。予め登録された登録特徴データと照会特徴データとが、そのベクトル表現の次元を有する2次元パターン表現空間に逆射影され、類似度が算出される。特徴量のデータサイズが小さく、位置ずれや画像歪に対して頑強なマッチング技術が提供される。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)