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1. (WO2008129850) イオントラップ質量分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2008/129850 国際出願番号: PCT/JP2008/000811
国際公開日: 30.10.2008 国際出願日: 28.03.2008
IPC:
H01J 49/42 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01)
H 電気
01
基本的電気素子
J
電子管または放電ランプ
49
粒子分光器または粒子分離管
26
質量分光器または質量分離管
34
動的分光器
42
走行安定型分光器,例.単極,四重極,多重極;ファービトロン
G 物理学
01
測定;試験
N
材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析
27
電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析
62
ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射
出願人:
株式会社島津製作所 Shimadzu Corporation [JP/JP]; 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 Kyoto 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511, JP (AllExceptUS)
岩本慎一 IWAMOTO, Shinichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
小寺慶 KODERA, Kei [JP/JP]; JP (UsOnly)
関谷禎規 SEKIYA, Sadanori [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
岩本慎一 IWAMOTO, Shinichi; JP
小寺慶 KODERA, Kei; JP
関谷禎規 SEKIYA, Sadanori; JP
代理人:
小林良平 KOBAYASI, Ryohei; 〒6008091 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル7階 小林特許商標事務所 Kyoto KOBAYASI PATENT & TRADEMARK 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building 37, Motoakuozi-tyo Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
優先権情報:
2007-10462412.04.2007JP
発明の名称: (EN) ION TRAP MASS SPECTROGRAPH
(FR) SPECTROGRAPHE DE MASSE À PIÈGE IONIQUE
(JA) イオントラップ質量分析装置
要約:
(EN) While applying a rectangular wave voltage to a ring electrode (21) such that ions already captured by an ion trap (20) are not diffused, frequency of the rectangular wave voltage is increased temporarily at such a timing as the ions generated in response to short time laser light irradiation reach an ion inlet (25). Consequently, Mathieu parameter qz lowers and since the potential well becomes shallow, the ions can enter the ion trap (20) easily. On the other hand, the ions captured already are diffused easily but since the frequency of the rectangular wave voltage decreases before the ions deviate from a stable track, scattering of ions can be avoided. The quantity of ion can thereby be increased without reducing the captured ions by introducing new ions additionally, and signal strength in one time mass spectrometry can be increased by performing mass separation/detection subsequently. Consequently, the number of repeating times of mass spectrometry for integrating the mass profile is decreased and the signal strength can be increased while shortening the measuring time.
(FR) Tout en appliquant une tension d'onde rectangulaire à une électrode en anneau (21) de sorte que des ions déjà capturés par un piège ionique (20) ne soient pas diffusés, la fréquence de la tension d'onde rectangulaire est augmentée temporairement selon une synchronisation telle que les ions générés en réponse à un rayonnement de lumière laser de courte durée atteignent une entrée d'ions (25). Par conséquent, un paramètre de Mathieu qz diminue et, étant donné que le puits de potentiel devient peu profond, les ions peuvent entrer facilement dans le piège ionique (20). D'autre part, les ions déjà capturés sont facilement diffusés mais, étant donné que la fréquence de la tension d'onde rectangulaire diminue avant que les ions ne s'écartent d'une trajectoire stable, une diffusion des ions peut être évitée. La quantité d'ions peut de ce fait être augmentée sans réduire les ions capturés en introduisant de nouveaux ions en plus, et l'intensité de signal d'une spectrométrie de masse en une fois peut être augmentée en effectuant une séparation/détection des masses par la suite. En conséquence, le nombre de répétitions de la spectrométrie de masse pour intégrer le profil de masse est diminué et l'intensité de signal peut être augmentée tout en raccourcissant le temps de mesure.
(JA)  既にイオントラップ(20)に捕捉されているイオンが発散しないようにリング電極(21)に矩形波電圧を印加しながら、短時間のレーザ光照射に応じて発生したイオンがイオン導入口(25)に達するタイミングで一時的に矩形波電圧の周波数を上昇させる。これによりマチウパラメータqzが低くなり、ポテンシャル井戸が浅くなってイオンがイオントラップ(20)内に入り易くなる。一方、既に捕捉されていたイオンは発散し易くなるが、安定軌道を外れる前に矩形波電圧の周波数が下がるので、イオンの散逸も回避できる。これにより、捕捉されているイオンを減らさず、さらに新規のイオンを追加導入することでイオン量を増加させることができ、その後に質量分離・検出を行うことで1回の質量分析における信号強度を増加させることができる。それにより、質量プロファイルを積算するための質量分析の繰り返し回数を減らし、測定時間の短縮化を図りつつ信号強度を増加させることができる。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
EP2136389JPWO2008129850US20100065740JP4894918