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1. (WO2008129635) 性能障害要因分析プログラムおよび性能障害要因分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/129635    国際出願番号:    PCT/JP2007/058077
国際公開日: 30.10.2008 国際出願日: 12.04.2007
IPC:
G06F 11/34 (2006.01)
出願人: FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118588 (JP) (米国を除く全ての指定国).
INAKOSHI, Hiroya [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: INAKOSHI, Hiroya; (JP)
代理人: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office Kasumigaseki Building 2-5, Kasumigaseki 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) PERFORMANCE FAILURE FACTOR ANALYSIS PROGRAM AND PERFORMANCE FAILURE FACTOR ANALYSIS APPARATUS
(FR) PROGRAMME ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE FACTEUR DE PANNE DE FONCTIONNEMENT
(JA) 性能障害要因分析プログラムおよび性能障害要因分析装置
要約: front page image
(EN)A portion in which the number of executions is frequent and execution time is long in a program is extracted regardless of the granularity of a function constituting the program. A performance failure factor analysis apparatus (100) has a candidate pattern generating section (111) for generating candidates for an appearance pattern of a trace record in the sequence in which the trace record is stored in order of output, a number-of-appearances counting section (112) for counting the number of appearances of the portion matching a candidate generated by the pattern candidate generating section (111) in the sequence, and a frequent appearance pattern extracting section (113) for extracting a candidate whose appearance frequency is above a predetermined one as a frequent appearance pattern from the candidates generated by the pattern candidate generating section (111) according to the result of the counting of the number-of-appearances counting section (112).
(FR)La partie dans laquelle le nombre d'exécutions est fréquent et le temps d'exécution est long, dans un programme, est extraite indépendamment de la granularité de la fonction constituant le programme. Un dispositif d'analyse de facteur de panne de fonctionnement (100) possède une section de génération de candidats de séquences (111), destinée à générer des candidats pour une séquence d'occurrences d'un enregistrement de trace, dans l'ordre dans lequel cet enregistrement de trace est stocké en vue de sa sortie, une section de comptage de nombre d'occurrences (112) destinée à compter le nombre d'occurrences de la partie correspondant à un candidat généré par la section de génération de candidats de séquences (111) dans l'ordre, et une section d'extraction de séquences d'occurrences fréquentes (113) destinée à extraire un candidat, dont la fréquence d'occurrence est supérieure à une fréquence déterminée, en tant que séquence d'occurrences fréquentes du candidat généré par la section de génération de candidats de séquences (111) selon le résultat du comptage de la section de comptage de nombre d'occurrences (112).
(JA) 本発明は、プログラムを構成する関数の粒度に関係なく、プログラム中で実行回数が多く実行時間が長い部分を抽出することを目的とする。この目的を達成するため、性能障害要因分析装置100は、トレースレコードが出力順に格納された配列におけるトレースレコードの出現パターンの候補を生成する候補パターン生成部111と、パターン候補生成部111によって生成された候補にマッチする部分が配列中に出現する回数を計数する出現回数計数部112と、出現回数計数部112の計数結果に基づいて、パターン候補生成部111によって生成された候補から出現頻度が所定以上である候補を頻出パターンとして抽出する頻出パターン抽出部113とを有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)