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1. (WO2008126747) 試験装置、試験方法、および電子デバイス
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2008/126747 国際出願番号: PCT/JP2008/056612
国際公開日: 23.10.2008 国際出願日: 02.04.2008
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01) ,G11C 29/10 (2006.01) ,G11C 29/56 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317
デジタル回路の試験
3181
機能試験
3183
試験入力,例.テストベクトル,パターンまたはシーケンス,の発生
G 物理学
11
情報記憶
C
静的記憶
29
正確な動作のための記憶装置のチェック;スタンバイまたはオフライン動作中の記憶装置のテスト
04
故障したメモリ素子の検出またはその位置の特定
08
機能試験,例.リフレッシュ中の試験,パワーオン・セルフテスト(POST),または分散テスト
10
テストアルゴリズム,例.メモリスキャン(MScan)アルゴリズム;テストパターン,例.チェックボードパターン
G 物理学
11
情報記憶
C
静的記憶
29
正確な動作のための記憶装置のチェック;スタンバイまたはオフライン動作中の記憶装置のテスト
56
静的記憶のための外部試験装置,例.自動検査装置(ATE);そのインターフェース
出願人:
株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
山田 達也 YAMADA, Tatsuya [JP/JP]; JP (UsOnly)
村田 清志 MURATA, Kiyoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
山田 達也 YAMADA, Tatsuya; JP
村田 清志 MURATA, Kiyoshi; JP
代理人:
龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報:
11/733,17409.04.2007US
発明の名称: (EN) TEST APPARATUS, TEST METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE
(FR) APPAREIL DE TEST, PROCÉDÉ DE TEST ET COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) 試験装置、試験方法、および電子デバイス
要約:
(EN) A test apparatus for testing a device under test comprises a pattern memory for storing, in accordance with a compression format, test order queues defining a test sequence for testing the device under test, an expansion unit for expanding the test order queues read from the pattern memory into a non-compression format, an order cache for caching the test order queues expanded by the expansion unit, a pattern generation unit for sequentially reading and executing the orders stored in the order cache and generating a test pattern for the orders to be executed, and a signal output unit for generating test signals based on the test pattern and supplying the test signals to the device under test.
(FR) L'invention concerne un appareil de test destiné à tester un composant en test qui comprend une mémoire de séquences permettant de stocker, conformément à un format de compression, des files d'instructions de test définissant une séquence de tests afin de tester le composant en test, une unité d'extension permettant de développer dans un format sans compression les files d'instructions de test lues à partir de la mémoire de séquences, une antémémoire destinée à mettre en cache les files d'instructions de test développées grâce à l'unité d'extension, une unité de génération de séquences destinée à lire et à exécuter séquentiellement les instructions mémorisées dans l'antémémoire d'instructions et à générer une séquence de tests pour les instructions à exécuter, ainsi qu'une unité de sortie de signaux permettant de générer des signaux de test fondés sur la séquence de tests et d'appliquer les signaux de test au composant en test.
(JA)  被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験するための試験シーケンスを定める試験命令列を圧縮形式で記憶するパターンメモリと、パターンメモリから読み出された試験命令列を非圧縮形式に展開する展開部と、展開部により展開された試験命令列をキャッシングする命令キャッシュと、命令キャッシュに格納された命令を順次読み出して実行し、実行される命令に対する試験パターンを発生するパターン発生部と、試験パターンに基づく試験信号を生成し、被試験デバイスに供給する信号出力部とを備える試験装置を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
KR1020090131676JPWO2008126747JP5175840