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1. (WO2008126502) スクライブ装置及びスクライブ方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/126502    国際出願番号:    PCT/JP2008/053696
国際公開日: 23.10.2008 国際出願日: 29.02.2008
IPC:
B28D 5/00 (2006.01), C03B 33/027 (2006.01), C03B 33/03 (2006.01), G02F 1/13 (2006.01), G02F 1/1333 (2006.01), G09F 9/00 (2006.01)
出願人: THK CO., LTD. [JP/JP]; 11-6, Nishi Gotanda 3-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1418503 (JP) (米国を除く全ての指定国).
THK INTECHS CO., LTD. [JP/JP]; 4-11-10, Toyotamakita, Nerima-ku, Tokyo 1760012 (JP) (米国を除く全ての指定国).
HOSHINO, Takanobu [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MITO, Masanori [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
HANYU, Akio [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KONO, Takaya [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SHISHIDO, Yoshiaki [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: HOSHINO, Takanobu; (JP).
MITO, Masanori; (JP).
HANYU, Akio; (JP).
KONO, Takaya; (JP).
SHISHIDO, Yoshiaki; (JP)
代理人: SHIOJIMA, Toshiyuki; Floral Akihabara bldg. 7F., 2-12, Kandasakumacho Chiyoda-ku, Tokyo 1010025 (JP)
優先権情報:
2007-095048 30.03.2007 JP
発明の名称: (EN) SCRIBE DEVICE AND SCRIBE METHOD
(FR) DISPOSITIF DE RAINURAGE ET PROCÉDÉ DE RAINURAGE
(JA) スクライブ装置及びスクライブ方法
要約: front page image
(EN)A scribe device that allows a cutter to accurately follow irregularities of a workpiece even if the workpiece has an uneven flatness. The scribe device has the cutter (6) coming into contact with a workpiece (W), a relative movement section (20) for moving the cutter (6) relative to the surface of the workpiece (W), a cut depth adjustment section (31) for adjusting the depth of cut in the workpiece (W) by the cutter (6), a height measurement section (18) for measuring, while the cutter (16) forms a scribe line on the workpiece (W), the height of that measurement point (W1) of the workpiece (W) which is ahead in the advancement direction of the cutter (6), and a control section for controlling, when the cutter (6) pass through the measurement point (W1) of the workpiece (W), the cut depth adjustment section (31) based on the height of the measurement point (W1) of the workpiece (W) which is measured by the height measurement section (18). The height measurement section (18) is placed at a position ahead in the advancement direction of the cutter (6). Because values measured by the height measurement section (18) are reflected (but not immediately) when the cutter (6) passes through the measurement point (W1), the cutter (6) can be made to accurately follow irregularities of the workpiece (W).
(FR)L'invention concerne un dispositif de rainurage qui permet à un couteau de suivre de façon précise les irrégularités d'une pièce à travailler, même si la pièce à travailler a une planéité non uniforme. Le dispositif de rainurage présente un couteau (6) venant en contact avec une pièce à travailler (W), une section de mouvement relatif (20) pour déplacer le couteau (6) par rapport à la surface de la pièce à travailler (W), une section d'ajustement de profondeur de coupe (31) pour ajuster la profondeur de coupe dans la pièce à travailler (W) par le couteau (6), une section de mesure de hauteur (18) pour mesurer, alors que le couteau (16) forme une ligne de rainurage sur la pièce à travailler (W), la hauteur du point de mesure (W1) de la pièce à travailler (W) qui est au-devant dans la direction d'avance du couteau (6), et une section de commande pour commander, lorsque le couteau (6) passe par le point de mesure (W1) de la pièce à travailler (W), la section d'ajustement de profondeur de coupe (31) sur la base de la hauteur du point de mesure (W1) de la pièce à travailler (W) qui est mesurée par la section de mesure de hauteur (18). La section de mesure de hauteur (18) est placée à une position au-devant dans la direction d'avance du couteau (6). En raison du fait que les valeurs mesurées par la section de mesure de hauteur (18) sont réfléchies (mais non immédiatement) lorsque le couteau (6) passe par le point de mesure (W1), le couteau (6) peut être amené à suivre de façon précise les irrégularités de la pièce à travailler (W).
(JA) ワークの平面度が不均一でも、カッタをワークの凸凹に正確に追従させることができるスクライブ装置を提供する。  本発明のスクライブ装置は、ワークWに当接するカッタ6と、カッタ6をワークWの表面に沿って相対的に移動させる相対移動部20と、カッタ6がワークWに切り込む深さを調節する切込み深さ調節部31と、カッタ6がワークWにスクライブ線を形成する最中に、カッタ6の進行方向の前方のワークWの測定点W1の高さを測定する高さ測定部18と、カッタ6がワークWの測定点W1を通過するとき、高さ測定部18が測定したワークWの測定点W1の高さに基づいて、切込み深さ調節部31を制御する制御部と、を備える。高さ測定部18はカッタ6の進行方向の前方に配置され、その測定値はカッタ6が測定点W1を通過するときに反映される(測定値が直ちに反映される訳ではない)ので、カッタ6をワークWの凸凹に正確に追従させることができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)