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1. (WO2008123408) 3次元顕微鏡および3次元画像取得方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2008/123408 国際出願番号: PCT/JP2008/056046
国際公開日: 16.10.2008 国際出願日: 28.03.2008
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G03H 1/04 (2006.01) ,A61B 19/00 (2006.01) ,G01B 9/04 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
G 物理学
03
写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ
H
ホログラフィー的方法または装置
1
ホログラムを得るためまたはそれらから像を得るために光,赤外または紫外波を用いたホログラフィー的方法または装置;それに特有な細部
04
ホログラムを作るための方法または装置
A 生活必需品
61
医学または獣医学;衛生学
B
診断;手術;個人識別
19
1/00から18/00のグループのどれにも包含されない手術または診断のための機器,器具,または補助具,例.定位脳手術,不妊手術,脱臼処置,傷口保護具のためのもの
G 物理学
01
測定;試験
B
長さ,厚さまたは同種の直線寸法の測定;角度の測定;面積の測定;表面または輪郭の不規則性の測定
9
このサブグループに記述され,かつ光学的測定手段の使用によって特徴づけられた計器
04
測定用顕微鏡
出願人:
株式会社ニコン NIKON CORPORATION [JP/JP]; 〒1008331 東京都千代田区丸の内三丁目2番3号 Tokyo 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008331, JP (AllExceptUS)
福武 直樹 FUKUTAKE, Naoki [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
福武 直樹 FUKUTAKE, Naoki; JP
代理人:
特許業務法人オカダ・フシミ・ヒラノ OKADA, FUSHIMI AND HIRANO, PC; 〒1020074 東京都千代田区九段南3丁目2番7号、NE九段ビル Tokyo NE Kudan Bldg. 2-7, Kudan-minami 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1020074, JP
優先権情報:
12/050,64518.03.2008US
60/907,48904.04.2007US
60/960,37727.09.2007US
発明の名称: (EN) THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE AND METHOD FOR ACQUIRING THREE-DIMENSIONAL IMAGE
(FR) MICROSCOPE TRIDIMENSIONNEL ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'UNE IMAGE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 3次元顕微鏡および3次元画像取得方法
要約:
(EN) A microscope which has high three-dimensional resolution and eliminates the need for staining a specimen while assuring ease of use. The microscope includes a first optical system for sequentially irradiating an object with light from a plurality of radiation directions, a second optical system for guiding the diffracted light and reference light generated from an object to an imaging section, an imaging section for imaging interference images of the diffracted light and reference light, and a processing unit (201) for generating the three-dimensional image of an object from the interference images of respective radiation directions which are acquired by the imaging section. The processing unit determines the complex amplitude of the diffracted light from the interference images in each of radiation directions to generate the three-dimensional image of the object on the basis of such a determined complex amplitude.
(FR) L'invention concerne un microscope qui a une résolution tridimensionnelle élevée et élimine le besoin de la coloration d'un spécimen tout en assurant une facilité d'utilisation. Le microscope comprend un premier système optique pour irradier de façon séquentielle un objet avec de la lumière provenant de plusieurs directions de rayonnement, un second système optique pour guider la lumière diffractée et une lumière de référence générée à partir d'un objet vers une section d'imagerie, une section d'imagerie pour représenter des images d'interférence de la lumière diffractée et de la lumière de référence, et une unité de traitement (201) pour générer l'image tridimensionnelle d'un objet à partir des images d'interférence de directions de rayonnement respectives qui sont acquises par la section d'imagerie. L'unité de traitement détermine l'amplitude complexe de la lumière diffractée à partir des images d'interférence dans chacune des directions de rayonnement pour générer l'image tridimensionnelle de l'objet sur la base d'une telle amplitude complexe déterminée.
(JA)  高い3次元分解能を有し、試料を染色する必要がなく、使い勝手のよい顕微鏡を提供する。 3次元顕微鏡は、物体に対して光を複数の照射方向から順次照射する第1光学系と、物体から発生する回折光と参照光とを撮像部に導く第2光学系と、回折光と参照光との干渉像を撮像する撮像部と、撮像部によって取得された照射方向ごとの干渉像から物体の3次元画像を生成する処理装置(201)と、を含む。処理装置は、照射方向ごとの干渉像から回折光の複素振幅を求め、複素振幅から物体の3次元画像を生成する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
JP5170084