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1. (WO2008123146) 顕微鏡
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2008/123146 国際出願番号: PCT/JP2008/055291
国際公開日: 16.10.2008 国際出願日: 21.03.2008
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/12 (2006.01)
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
G 物理学
02
光学
B
光学要素,光学系,または光学装置
21
顕微鏡
06
試料照明のための手段
08
コンデンサー
12
明視野照明を与えるもの
出願人:
アルテア技研株式会社 ALTAIR CORPORATION [JP/JP]; 〒2220033 神奈川県横浜市港北区新横浜3-23-3 Kanagawa 3-23-3, Shinyokohama, Kouhoku-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2220033, JP (AllExceptUS)
平藤 衛 HIRAFUJI, Mamoru [JP/JP]; JP (UsOnly)
富永 一郎 TOMINAGA, Ichiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
江田 滋人 EDA, Shigeto [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
平藤 衛 HIRAFUJI, Mamoru; JP
富永 一郎 TOMINAGA, Ichiro; JP
江田 滋人 EDA, Shigeto; JP
代理人:
名古屋国際特許業務法人 NAGOYA INTERNATIONAL PATENT FIRM; 〒4600003 愛知県名古屋市中区錦一丁目20番19号 名神ビル Aichi Meishin Bldg., 20-19, Nishiki 1-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003, JP
優先権情報:
2007-07548522.03.2007JP
発明の名称: (EN) MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE
(JA) 顕微鏡
要約:
(EN) A microscope enables stereoscopic observation of a transparent or semitransparent sample. The microscope has placement means for placing a sample in position, magnification means for magnifying the sample to a size viewable through an objective lens, a pattern body section where a pattern is drawn, and light projection means for applying light to at least the pattern body section. The placement means, the pattern body section, and the light projection means are arranged at positions that enable light projected from the light projection means to be applied through the pattern body section to the sample placed by the placement means within the depth of field of the magnification means.
(FR) L'invention concerne un microscope qui permet une observation stéréoscopique d'un échantillon transparent ou semi-transparent. Le microscope a des moyens de placement pour placer un échantillon en position, des moyens d'agrandissement pour agrandir l'échantillon à une dimension visualisable à travers une lentille objectif, une section de corps de motif dans laquelle un motif est dessiné, et des moyens de projection de lumière pour appliquer une lumière à au moins la section de corps de motif. Les moyens de placement, la section de corps de motif et les moyens de projection de lumière sont disposés à des positions qui permettent à une lumière projetée par les moyens de projection de lumière d'être appliquée à travers la section de corps de motif à l'échantillon placé par les moyens d'échantillon à l'intérieur de la profondeur de champ des moyens d'agrandissement.
(JA)  透明あるいは半透明の試料を立体的に観察可能な顕微鏡を提供する。顕微鏡は、試料を設置する設置手段と、対物レンズを介して試料を視認可能な大きさに拡大する拡大手段と、模様が描かれた模様体部と、少なくとも模様体部に光を当てる投光手段とを備え、投光手段から投光された光を、模様体部を介し、設置手段により拡大手段の被写界深度内に配置された試料に当てることが可能な位置に、設置手段、模様体部、投光手段を設置したことを特徴とする。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
EP2128677US20100142040