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1. (WO2008117468) 試験装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2008/117468 国際出願番号: PCT/JP2007/056483
国際公開日: 02.10.2008 国際出願日: 27.03.2007
IPC:
G01R 31/3183 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
317
デジタル回路の試験
3181
機能試験
3183
試験入力,例.テストベクトル,パターンまたはシーケンス,の発生
出願人:
株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
小林 信一 KOBAYASHI, Shinichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
小林 信一 KOBAYASHI, Shinichi; JP
代理人:
龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1631105 東京都新宿区西新宿6-22-1 新宿スクエアタワー5階 Tokyo 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) TESTER
(FR) TESTEUR
(JA) 試験装置
要約:
(EN) A tester for testing a device under test is provided. The tester comprises a first pipeline for sequentially propagating each pattern data included in a first test pattern depending on a first test period to supply it to the device under test, a second pipeline for sequentially propagating each pattern data included in a second test pattern depending on a second test period different from the first test period to supply it to the device under test, a timing control section for controlling at least one of the timing to start predetermined propagation of the first pattern data in the first pipeline and the timing to start predetermined propagation of the second pattern data in the second pipeline on the basis of the first and second test periods, and a judgment section for judging the quality of the device under test on the basis of a signal outputted by the device under test.
(FR) L'invention concerne un testeur destiné à tester un dispositif à tester. Ce testeur comprend un premier pipeline destiné à la propagation séquentielle de chacune des données de modèle contenues dans un premier modèle de test qui dépend d'une première période de test pour l'alimenter au dispositif testé, un second pipeline destiné à la propagation séquentielle de chacune des données de modèle contenues dans un second modèle de test qui dépend d'une seconde période de test différente de la première pour l'alimenter au dispositif testé, une section de commande de synchronisation destinée à commander au moins une des synchronisations pour amorcer la propagation prédéfinie des premières données de modèle dans le premier pipeline ou des secondes données de modèle dans le second pipeline sur la base des première et seconde périodes de test, et une section d'évaluation destinée à évaluer la qualité du dispositif testé sur la base d'un signal émis par le dispositif testé.
(JA)  被試験デバイスを試験する試験装置であって、第1の試験周期に応じて第1の試験パターンに含まれる各パターンデータを順次伝播して、被試験デバイスに供給する第1のパイプラインと、第1の試験周期とは異なる第2の試験周期に応じて、第2の試験パターンに含まれる各パターンデータを順次伝播して、被試験デバイスに供給する第2のパイプラインと、第1のパイプラインにおいて、予め定められた第1のパターンデータの伝播を開始するタイミングと、第2のパイプラインにおいて、予め定められた第2のパターンデータの伝播を開始するタイミングとの少なくとも一方を、第1の試験周期及び第2の試験周期に基づいて制御するタイミング制御部と、被試験デバイスが出力する信号に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)
また、:
KR1020100005090US20090295418