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1. (WO2008117418) 接続装置及び方法、並びに、試験装置及び方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報

国際公開番号: WO/2008/117418 国際出願番号: PCT/JP2007/056328
国際公開日: 02.10.2008 国際出願日: 27.03.2007
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
G 物理学
01
測定;試験
R
電気的変量の測定;磁気的変量の測定
31
電気的性質を試験するための装置;電気的故障の位置を示すための装置;試験対象に特徴のある電気的試験用の装置で,他に分類されないもの
28
電子回路の試験,例.シグナルトレーサーによるもの
出願人:
富士通株式会社 FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 〒2118588 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番1号 Kanagawa 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118588, JP (AllExceptUS)
石塚 俊弘 ISHIZUKA, Toshihiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
福沢 信一 FUKUZAWA, Shinichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
発明者:
石塚 俊弘 ISHIZUKA, Toshihiro; JP
福沢 信一 FUKUZAWA, Shinichi; JP
代理人:
藤元 亮輔 FUJIMOTO, Ryosuke; 〒1040028 東京都中央区八重洲2丁目2番10号 八重洲名古屋ビル6階 藤元国際特許事務所 Tokyo FUJIMOTO PATENT OFFICE Yaesu Nagoya Building 6thFloor 2-10, Yaesu 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040028, JP
優先権情報:
発明の名称: (EN) CONNECTION DEVICE AND METHOD, AND TEST DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CONNEXION AINSI QUE DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 接続装置及び方法、並びに、試験装置及び方法
要約:
(EN) A connection device (60) is characterized by comprising a positioning pin (62) capable of being inserted into a positioning hole (56) formed in a wiring board (50), a positioning pin (64) capable of being inserted into a positioning hole (187) formed in an electronic part (111) to be tested, a probe pin (66) which has, at the one end, a probe (67a) allowed to come into contact with the electrode (54) of the wiring board (50) and has, at the other end, a probe (67b) allowed to come into contact with the second electrode (186) of the electronic part (111) to be tested and electrically connects the electrodes (54, 186) to each other, and a housing (70) for holding the positioning pins (62, 64) and the probe pin (66).
(FR) Le dispositif de connexion (60) selon l'invention est caractérisé en ce qu'il comprend une broche de positionnement de puce (62) capable d'être insérée dans un trou de positionnement (56) formé dans une carte de connexion (50) ; une broche de positionnement (64) capable d'être insérée dans un trou de positionnement (187) formé dans une pièce électronique (111) à tester ; une broche de sonde (66) qui a, en une extrémité, une sonde (67a) prévue pour venir en contact avec l'électrode (54) de la carte de connexion (50) et a, à l'autre extrémité, une sonde (67b) prévue pour venir en contact avec la deuxième électrode (186) de la pièce électronique (111) à tester et connecte électriquement les électrodes (54, 186) entre elles ; et un boîtier (70) destiné à tenir les broches de positionnement (62, 64) et la broche de sonde (66).
(JA)  配線板(50)に形成された位置決め孔(56)に挿入可能な位置決めピン(62)と、被検電子部品(111)に形成された位置決め孔(187)に挿入可能な位置決めピン(64)と、配線板(50)の電極(54)に接触可能なプローブ(67a)を一端に有し、被検電子部品(111)の第2の電極(186)に接触可能なプローブ(67b)を他端に有し、電極(54、186)を電気的に接続するプローブピン(66)と、位置決めピン(62、64)とプローブピン(66)とを保持するハウジング(70)とを有することを特徴とする接続装置(60)を提供する。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)