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1. (WO2008107983) 解析装置、解析方法及び解析プログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/107983    国際出願番号:    PCT/JP2007/054445
国際公開日: 12.09.2008 国際出願日: 07.03.2007
IPC:
G06F 17/50 (2006.01), H05K 3/00 (2006.01), H05K 3/34 (2006.01)
出願人: FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2118588 (JP) (米国を除く全ての指定国).
MIZUTANI, Daisuke [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
ITOH, Nobutaka [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: MIZUTANI, Daisuke; (JP).
ITOH, Nobutaka; (JP)
代理人: KOKUBUN, Takayoshi; 5th Floor, NBF Ikebukuro City Building 17-8, Higashi-Ikebukuro 1-chome Toshima-ku, Tokyo 1700013 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) ANALYZER, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM
(FR) ANALYSEUR, PROCÉDÉ D'ANALYSE, ET PROGRAMME D'ANALYSE
(JA) 解析装置、解析方法及び解析プログラム
要約: front page image
(EN)A first generating section (311) divides an object to be analyzed into a plurality of finite elements to generate element division data (334). A first computing section (312) defines and computes a plurality of meshes for dividing the object to be analyzed in larger units than the finite elements. A second generating section (313) generates mesh data (335) after assuming that a friction layer which has a thickness of 0 and brings the friction coefficient between a conductive material and a composite material into a predetermined value less than 1 exists at the interface between the conductive material and the composite material. A second computing section (314) uses various solvers to compute the physical quantity produced in the object to be analyzed from the mesh data (335) and output the result of the analysis. More specifically, the second computing section (314) performs a simulation of the behavior of the object to be analyzed. The simulation is performed within an arbitrary temperature range set by the user.
(FR)Une première section de génération (311) divise un objet à analyser en une pluralité d'éléments finis pour générer des données de division d'élément (334). Une première section de calcul (312) définit et calcule une pluralité de mailles pour diviser l'objet à analyser en unités plus larges que les éléments finis. Une seconde section de génération (313) génère des données de maille (335) après avoir supposé qu'une couche de frottement d'épaisseur 0 qui amène le coefficient de frottement entre un matériau conducteur et un matériau composite à avoir une valeur prédéterminée inférieure à 1 existe au niveau de l'interface entre le matériau conducteur et le matériau composite. Une seconde section de calcul (314) utilise divers résolveurs pour calculer la quantité physique produite dans l'objet à analyser à partir des données de maille (335) et émet le résultat de l'analyse. Plus spécifiquement, la seconde section de calcul (314) effectue une simulation du comportement de l'objet à analyser. La simulation est effectuée dans une gamme de température arbitraire réglée par l'utilisateur.
(JA) 第1生成部(311)は、解析対象物を複数の有限要素に分割し、要素分割データ(334)を生成する。第1算出部(312)は、有限要素よりも大きな単位で解析対象物を分割するメッシュを複数定義し算出する。第2生成部(313)は、導電材と複合材との界面に、厚さが「0」であり、導電材と複合材との間の摩擦係数を1未満の所定の値にする摩擦層が存在すると擬制した上で、メッシュデータ(335)を生成する。第2算出部(314)は、種々のソルバーを利用し、メッシュデータ(335)に基づいて解析対象物に生じる物理量を算出し、解析結果を出力する。つまり、第2算出部(314)は、解析対象物の挙動のシミュレーションを行う。このシミュレーションは、ユーザにより設定された任意の温度範囲内におけるものである。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)