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1. (WO2008105156) 偏光イメージング装置,及び微分干渉顕微鏡
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/105156    国際出願番号:    PCT/JP2008/000307
国際公開日: 04.09.2008 国際出願日: 22.02.2008
IPC:
G02B 21/06 (2006.01), G02B 5/30 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01), G02B 27/28 (2006.01)
出願人: PHOTONIC LATTICE, INC. [JP/JP]; c/o Aoba Incubation Square, Aramaki-Aza-Aoba, Aoba-ku, Sendai-shi, Miyagi 9800845 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KAWAKAMI, Shojiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SATO, Takashi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KAWASHIMA, Takayuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
INOUE, Yoshihiko [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KAWAKAMI, Shojiro; (JP).
SATO, Takashi; (JP).
KAWASHIMA, Takayuki; (JP).
INOUE, Yoshihiko; (JP)
代理人: HIROSE, Takayuki; c/o Hirose International Patent Firm The Royal Building 3F 3-8-7 Irifune, Chuo-ku Tokyo 1040042 (JP)
優先権情報:
2007-050873 28.02.2007 JP
発明の名称: (EN) POLARIZATION IMAGING DEVICE AND DIFFERENTIAL INTERFERENCE MICROSCOPE
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE DE POLARISATION ET MICROSCOPE À INTERFÉRENCE DIFFÉRENTIELLE
(JA) 偏光イメージング装置,及び微分干渉顕微鏡
要約: front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a differential interference microscope which can simultaneously acquire light intensity information and phase information. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] An image of a differential interference microscope is observed by using a polarization imaging device which can acquire a spatial distribution of a polarization state at one imaging by combining a polarizer array in which transmission axis direction is changed in a pixel unit and an imaging element. By performing calculation from this, it is possible to acquire the intensity information and the phase information separately from each other.
(FR)L'invention vise à proposer un microscope à interférence différentielle qui peut acquérir simultanément des informations d'intensité lumineuse et des informations de phase de lumière. A cet effet, l'image d'un microscope à interférence différentielle est observée à l'aide d'un dispositif d'imagerie de polarisation qui peut acquérir la distribution spatiale d'un état de polarisation à une imagerie en combinant un réseau de polariseurs dans lequel une direction d'axe de transmission est changée dans une unité de pixel et un élément d'imagerie. Des calculs réalisés à partir de ces données permettent d'acquérir les informations d'intensité et les informations de phase séparément.
(JA)【課題】 光の強度情報と位相情報を同時に取得できる微分干渉顕微鏡を提供する。 【解決手段】 画素単位で透過軸方位を変えた偏光子アレイと撮像素子の組み合わせにより,偏光状態の空間分布を一度の撮影で取得できる偏光イメージング装置を用いて,微分干渉顕微鏡の像を観察し,そこから計算を行うことで,強度情報と位相情報を分離して取得できる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)