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1. (WO2008099657) 半導体集積回路、デバッグ・トレース回路、および半導体集積回路動作観測方法

Pub. No.:    WO/2008/099657    International Application No.:    PCT/JP2008/051078
Publication Date: Fri Aug 22 01:59:59 CEST 2008 International Filing Date: Sat Jan 26 00:59:59 CET 2008
IPC: G06F 11/34
G06F 11/30
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
SUZUKI, Noriaki
鈴木 紀章
TORII, Sunao
鳥居 淳
Inventors: SUZUKI, Noriaki
鈴木 紀章
TORII, Sunao
鳥居 淳
Title: 半導体集積回路、デバッグ・トレース回路、および半導体集積回路動作観測方法
Abstract:
 主機能構成部は、連続的な所定の動作を実行し、動作に伴うイベントを連続的に発生させる。デバッグ・トレース回路は、主機能構成部で発生するイベントと制御情報リストのいずれか1つのエントリの検出条件指示情報とを比較し、比較の結果に応じて、検出条件指示情報と対をなす動作指示情報に指定された動作を実行する。デバッグ・トレース回路は、これを制御情報リストに従って連続的に行い、事象を特定する。