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1. (WO2008072678) 検出装置、システム、プログラムおよび検出方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/072678    国際出願番号:    PCT/JP2007/073976
国際公開日: 19.06.2008 国際出願日: 12.12.2007
IPC:
G06F 11/34 (2006.01)
出願人: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US/US]; New Orchard Road, Armonk, New York 10504 (US) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SV, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
OHBA, Nobuyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SAKAGUCHI, Yoshitami [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TAKANO, Kohji [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: OHBA, Nobuyuki; (JP).
SAKAGUCHI, Yoshitami; (JP).
TAKANO, Kohji; (JP)
代理人: UENO, Takeshi; c/o Yamato site, IBM Japan Ltd., 1623-14, Shimotsuruma, Yamato-shi, Kanagawa 2428502 (JP)
優先権情報:
2006-334864 12.12.2006 JP
発明の名称: (EN) DETECTING DEVICE, SYSTEM, PROGRAM, AND DETECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION, SYSTÈME, PROGRAMME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
(JA) 検出装置、システム、プログラムおよび検出方法
要約: front page image
(EN)Intended is to calculate simply the degree of correlation between a first event and a second event, which occur repeatedly in an observation target device. Provided is a detecting device for detecting the degree of correlation between the first event and the second event, which occur repeatedly in a device to be observed. The detecting device comprises an acquisition unit for acquiring a second event counted value of the number for the second event to occur in a first period from the occurrence of the first event to the next occurrence of the first event, a measuring unit for measuring the number of observations of the second event counted value, for each of the second event counted values, and a calculating unit for calculating the degree of correlation between the first event and the second event, on the basis of the observation numbers of each second event counted value.
(FR)L'invention propose de calculer de façon simple le degré de corrélation entre un premier événement et un second événement, qui se produisent de façon répétée dans un dispositif de cible d'observation. L'invention propose un dispositif de détection pour détecter le degré de corrélation entre le premier événement et le second événement, qui se produisent de façon répétée dans un dispositif devant être observé. Le dispositif de détection comporte une unité d'acquisition pour acquérir une valeur comptée de second événement du nombre pour que le second événement se produise dans une première période allant de l'occurrence du premier événement à la prochaine occurrence du premier événement, une unité de mesure pour mesurer le nombre d'observations de la valeur comptée du second événement, pour chacune des valeurs comptées du second événement, et une unité de calcul pour calculer le degré de corrélation entre le premier événement et le second événement, sur la base des nombres d'observations de chaque valeur comptée de second événement.
(JA)【課題】観測対象装置において繰り返し発生する第1イベントおよび第2イベントの相関度を簡単に算出する。 【解決手段】観測対象の装置において繰り返し発生する第1イベントおよび第2イベントの相関度を検出する検出装置であって、第1イベントが発生してから次に第1イベントが発生するまでの期間である第1期間のそれぞれについて、当該第1期間中に第2イベントが発生した回数をカウントした第2イベントカウント値を取得する取得部と、第2イベントカウント値毎に、当該第2イベントカウント値が観測された観測回数を計測する計測部と、第2イベントカウント値毎の観測回数に基づいて、第1イベントおよび第2イベントの相関度を算出する算出部とを備える検出装置を提供する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)