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1. (WO2008068847) 質量分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/068847    国際出願番号:    PCT/JP2006/324259
国際公開日: 12.06.2008 国際出願日: 05.12.2006
IPC:
G01N 27/64 (2006.01), H01J 49/16 (2006.01)
出願人: Shimadzu Corporation [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi Kyoto 6048511 (JP) (米国を除く全ての指定国).
HARADA, Takahiro [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
TAKEUCHI, Sadao [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
OGAWA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
SETOU, Mitsutoshi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: HARADA, Takahiro; (JP).
TAKEUCHI, Sadao; (JP).
OGAWA, Kiyoshi; (JP).
SETOU, Mitsutoshi; (JP)
代理人: KOBAYASI, Ryohei; KOBAYASI PATENT & TRADEMARK, 7th Floor, Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si Kyoto 6008091 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) MASS SPECTROSCOPE
(FR) SPECTROSCOPE DE MASSE
(JA) 質量分析装置
要約: front page image
(EN)A plate (3) on which a sample (4) is mounted is set at a stage (2). An observation image of the sample is picked up by a CCD camera (14) and the image is stored at an image data memory unit (23). An operator then takes out the plate (3) and sprays a MALDI matrix on the plate and again sets the plate (3) at the stage (2). After that, when a predetermined operation is carried out, a clear observation image of the sample picked up before spraying the matrix is displayed on a display unit (24). An analyzing position or region is designated on this image. Although setting and taking out the plate (3) causes the position of the sample (4) a possible shift, an image analysis processing unit (44) calculates a direction or an amount of the position shift by recognizing a position of marking set on the plate, and a position shift correcting unit (42) calculates coordinates to correct the position shift. With this, even if a position shift exists, a highly accurate mass analysis on an real sample can be carried out for a position or region designated on the clear observation image before spraying the matrix.
(FR)L'invention concerne une plaquette (3) sur laquelle est déposé un échantillon (4) que l'on met sur un support (2). Une image d'observation de l'échantillon est prise par une caméra CCD (14) et l'image est stockée dans une mémoire de données d'image (23). Un opérateur va alors extraire la plaquette (3) et pulvériser une matrice MALDI sur la plaquette avant de remettre ladite plaquette (3) sur le support (2). Ensuite, lors d'une opération prédéterminée, une image d'observation nette de l'échantillon prise avant de pulvériser la matrice est affichée sur une unité d'affichage (24). Une position ou une région d'analyse est désignée sur cette image. Même si la pose et l'extraction de la plaquette (3) risquent de décaler la position de l'échantillon (4), une unité de traitement d'analyse d'image (44) calcule une direction ou une quantité du décalage de position en reconnaissant une position de marquage définie sur la plaquette, et une unité de correction de décalage de position (42) calcule des coordonnées pour corriger le décalage de position. Alors, même s'il y a bien un décalage de position, on peut réaliser une analyse de masse extrêmement précise sur un échantillon réel pour une position ou région désignée sur l'image d'observation nette avant de pulvériser la matrice.
(JA) サンプル4を載せたプレート3をステージ2に装着しCCDカメラ14でサンプル観察画像を撮影し、これを画像データ記憶部23に保存する。それからオペレータはプレート3を取り出してサンプル4の上にMALDI用のマトリックスを吹き付け、そのプレート3を再びステージ2に装着する。その後、所定操作を行うと先に撮影されたマトリックス付着前の鮮明なサンプル観察画像が表示部24に表示されるから、この画像上で分析位置や領域を指定する。プレート3を脱着したことでサンプル4の位置はずれている可能性があるが、画像解析処理部44はプレート3上に設けられたマーキングの位置を認識することで位置ずれの方向や量を算出し、位置ずれ補正部42はその位置ずれを補正した座標を算出する。これにより、位置ずれがあっても鮮明なマトリックス付着前の観察画像上で指定された位置や領域を実際のサンプル上で高い精度で質量分析することができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)