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1. (WO2008066137) 電子部品の高周波特性誤差補正方法及び装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/066137    国際出願番号:    PCT/JP2007/073110
国際公開日: 05.06.2008 国際出願日: 29.11.2007
IPC:
G01R 27/28 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
出願人: Murata Manufacturing Co., Ltd. [JP/JP]; 10-1, Higashikotari 1-chome, Nagaokakyo-shi, Kyoto 6178555 (JP) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SV, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
FUJII, Naoki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KAMITANI, Gaku [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MORI, Taichi [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: FUJII, Naoki; (JP).
KAMITANI, Gaku; (JP).
MORI, Taichi; (JP)
代理人: YAMAMOTO, Toshinori; Room 810, Kondo Bldg. 4-12, Nishitenma 4-chome Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5300047 (JP)
優先権情報:
2006-324975 30.11.2006 JP
PCT/JP2007/067378 06.09.2007 JP
発明の名称: (EN) ELECTRONIC PART HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTIC ERROR CORRECTION METHOD AND DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CORRECTION D'ERREUR DE CARACTÉRISTIQUE HAUTE FRÉQUENCE DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子部品の高周波特性誤差補正方法及び装置
要約: front page image
(EN)Provided is an electronic part high-frequency characteristic error correction method capable of performing calibration of a 2-terminal impedance part while a measurement system to be corrected is in the same state as in the actual measurement. At least three correction data acquiring samples having different high-frequency characteristics are measured in a reference measurement system and in an actual measurement system. An expression for correlating a measurement value obtained in the actual measurement system with a measurement value obtained in the reference measurement system is decided by using a transmission path error correction coefficient. An arbitrary electronic part (2) is measured in the actual measurement system and an estimated value of the high-frequency characteristic of the electronic part which would be obtained by measuring the electronic part in the reference measurement system is calculated by using the decided expression.
(FR)L'invention concerne un procédé de correction d'erreur de caractéristique haute fréquence de composant électronique pouvant effectuer le calibrage d'un composant d'impédance à deux bornes pendant qu'un système de mesure à corriger est dans le même état que dans la mesure réelle. Au moins 3 échantillons acquérant des données de correction ayant des caractéristiques haute fréquence différentes sont mesurés dans un système de mesure de référence et dans un système de mesure réel. Une expression permettant de mettre en corrélation une valeur de mesure obtenue dans le système de mesure réel avec une valeur de mesure obtenue dans le système de mesure de référence est choisie en utilisant un coefficient de correction d'erreur de voie de transmission. Un composant électronique arbitraire (2) est évalué dans le système de mesure réel et une valeur estimée de la caractéristique haute fréquence du composant électronique qui serait obtenue en évaluant le composant électronique dans le système de mesure de référence est calculée en utilisant l'expression choisie.
(JA) 2端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。  高周波特性の異なる少なくとも3つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品2を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、当該電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう当該電子部品の高周波特性の推定値を算出する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)