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1. (WO2008066129) 検査装置、検査方法、撮像検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査プログラム
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/066129    国際出願番号:    PCT/JP2007/073093
国際公開日: 05.06.2008 国際出願日: 29.11.2007
IPC:
G01M 11/00 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01), G01N 21/958 (2006.01), G02F 1/13 (2006.01), G02F 1/1335 (2006.01)
出願人: SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi Osaka 5458522 (JP) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SV, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW only).
MURAKAMI, Takeshi; (米国のみ)
発明者: MURAKAMI, Takeshi;
代理人: HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5300041 (JP)
優先権情報:
2006-322631 29.11.2006 JP
発明の名称: (EN) TESTING APPARATUS, TESTING METHOD, IMAGE PICKUP TESTING SYSTEM, COLOR FILTER MANUFACTURING METHOD, AND TESTING PROGRAM
(FR) APPAREIL D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, SYSTÈME D'ANALYSE DE PRISE D'IMAGE, PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN FILTRE COLORÉ, ET PROGRAMME D'ANALYSE
(JA) 検査装置、検査方法、撮像検査システム、カラーフィルタの製造方法、検査プログラム
要約: front page image
(EN)An image analyzing apparatus (100), which is one of testing apparatuses according to the present invention, tests a color filter substrate (330) based on picked-up image data obtained by imaging a light-irradiated to-be-tested surface of the color filter substrate (330). The image analyzing apparatus (100) comprises a one-dimensional projection processing circuit (110) that performs a one-dimensional projection processing of light distribution information included in the picked-up image data with an arbitrary direction used as a projecting direction; and a period analysis processing circuit (120) that performs a period analysis of the light distribution information having been subjected to the one-dimensional projection processing by the one-dimensional projection processing circuit (110). In this way, the period of the light distribution in the picked-up image in the projecting direction can be determined from a period analysis result, thereby making it possible to determine whether there exists any periodicity for unevenness (stripe unevenness) occurring on the surface of the display member of the color filter substrate (330) or the like that is a tested object.
(FR)L'appareil d'analyse d'image (100), qui représente l'un des appareils d'analyse selon l'invention, teste un substrat de filtre coloré (330) sur la base de données d'images saisies obtenues par imagerie d'une surface à tester irradiée par de la lumière appartenant au substrat de filtre coloré (330). L'appareil d'analyse d'image (100) comprend un circuit de traitement de projection unidimensionnelle (110) qui effectue un traitement de projection unidimensionnelle des informations de distribution de lumière incluses dans les données d'images saisies avec une direction arbitraire utilisée en tant que direction de projection ; et un circuit de traitement d'analyse de période (120) qui effectue une analyse de période des informations de distribution de lumière qui ont été soumises au traitement de projection unidimensionnelle par le circuit de traitement de projection unidimensionnelle (110). De cette façon, la période de la distribution de lumière dans l'image saisie dans la direction de projection peut être déterminée à partir d'un résultat d'analyse de période, rendant ainsi possible la détermination de l'existence d'une quelconque périodicité d'une irrégularité (irrégularité de bandes) se produisant sur l'élément d'affichage du substrat de filtre coloré (330) ou sur un élément similaire qui représente un objet testé.
(JA) 本発明の検査装置の一つである画像解析装置(100)は、カラーフィルタ基板(330)の光照射されている検査対称面を撮像して得られた撮像画像データに基づいて、該カラーフィルタ基板(330)の検査を行う検査装置である。上記画像解析装置(100)は、上記撮像画像データに含まれる光分布情報に対して、任意の方向を投影方向として一次元投影処理を行う一次元投影処理回路(110)と、上記一次元投影処理回路(110)によって一次元投影処理された光分布情報の周期解析を行う周期解析処理回路(120)とを備えている。これにより、周期解析結果から、撮像画像における投影方向の光分布の周期を判断することができるので、被検査体であるカラーフィルタ基板(330)などの表示部材の表面に発生するムラ(スジムラ)の周期性の有無の判断を可能としている。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)