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1. (WO2008062571) 半導体集積回路の回路検証装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/062571    国際出願番号:    PCT/JP2007/057569
国際公開日: 29.05.2008 国際出願日: 04.04.2007
IPC:
G06F 17/50 (2006.01)
出願人: PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TAKETAZU, Hirokuni; (米国のみ).
NISHIDA, Yoshihito; (米国のみ).
TAGUCHI, Hirofumi; (米国のみ)
発明者: TAKETAZU, Hirokuni; .
NISHIDA, Yoshihito; .
TAGUCHI, Hirofumi;
代理人: MAEDA, Hiroshi; Osaka-Marubeni Bldg. 5-7, Hommachi 2-chome Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 541-0053 (JP)
優先権情報:
2006-314173 21.11.2006 JP
発明の名称: (EN) CIRCUIT TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
(FR) APPAREIL DE TEST DE CIRCUIT POUR CIRCUIT INTÉGRÉ SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 半導体集積回路の回路検証装置
要約: front page image
(EN)In an apparatus for testing CDC (Clock Domain Crossing) in a semiconductor integrated circuit design, in order to reduce or screen the contents of CDC violation reports, information that prompts to check on a circuit operation restriction is outputted and the circuit structure is analyzed based on the circuit operation restriction.
(FR)Dans un appareil pour tester le CDC (croisement de domaines d'horloge) dans une conception de circuit intégré semi-conducteur, afin de réduire ou cribler les contenus de rapports de violation de CDC, des informations qui amènent à vérifier une restriction de fonctionnement de circuit sont produites et la structure de circuit est analysée sur la base de la restriction de fonctionnement de circuit.
(JA) 半導体集積回路設計におけるCDC(Clock Domain Crossing)を検証する装置において,CDC 違反レポートの内容の削減または選別を行うため,回路動作制約を調べるように促す情報を出力し,回路動作制約に基づいて回路構造を解析する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)