WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | Français | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

国際・国内特許データベース検索
World Intellectual Property Organization
検索
 
閲覧
 
翻訳
 
オプション
 
最新情報
 
ログイン
 
ヘルプ
 
自動翻訳
1. (WO2008050380) 表示パネルの検査装置および検査方法
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/050380    国際出願番号:    PCT/JP2006/321037
国際公開日: 02.05.2008 国際出願日: 23.10.2006
IPC:
G09F 9/00 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/12 (2006.01)
出願人: Pioneer Corporation [JP/JP]; 1-4-1 Meguro, Meguro-ku, Tokyo 1538654 (JP) (米国を除く全ての指定国).
Tohoku Pioneer Corporation [JP/JP]; 1105 Aza-Nikko, Oaza-Kunomoto, Tendo-shi, Yamagata 9948585 (JP) (米国を除く全ての指定国).
TOGASHI, Masato [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
MORIYA, Keisuke [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: TOGASHI, Masato; (JP).
MORIYA, Keisuke; (JP)
代理人: KINOSHITA, Shigeru; Kawasaki East One Bldg. 11F., 11-1, Ekimaehoncho, Kawasaki-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 210-0007 (JP)
優先権情報:
発明の名称: (EN) DISPLAY PANEL TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD
(FR) APPAREIL DE TEST DE PANNEAU D'AFFICHAGE ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 表示パネルの検査装置および検査方法
要約: front page image
(EN)An apparatus for testing a display panel (1) in which display elements (E11-Emn) are connected in a matrix at respective ones of the intersections of a plurality of anode lines (A1-Am) and a plurality of cathode lines (K1-Kn). A voltage from a test power supply (E1) is applied to the cathode line connected to a display element to be tested, while a voltage (ground potential) from a determination anode power supply, which is lower in voltage value than the test power supply (E1), is applied to the anode line connected to the display element to be tested. In the meantime, the voltage of a non-determination power supply (E2), which has the same voltage value as the test power supply (E1), is applied to each of the cathode and anode lines that are not connected to the display element to be tested. In the structure described heretofore, the value of a current flowing from the test power supply (E1) is determined by a current determining means (2), whereby the potentially defective state of the display element to be tested can be examined with precision without receiving the affection of a 'sneak current' via an defective element that is not the display element to be tested.
(FR)La présente invention concerne un appareil permettant de tester un panneau d'affichage (1) dans lequel les éléments d'affichage (E11-Emn) sont reliés dans une matrice à des intersections respectives d'une pluralité de lignes d'anode (A1-Am) et à une pluralité de lignes de cathode (K1-Kn). Une tension provenant d'une source d'alimentation de test (E1) est appliquée à la ligne de cathode reliée à un élément d'affichage à évaluer, tandis qu'une tension (potentiel de terre) provenant d'une source d'alimentation d'anode de détermination, qui est inférieure en valeur de tension à la source d'alimentation de test (E1), est appliquée à la ligne d'anode reliée à l'élément d'affichage à évaluer. Pendant ce temps, la tension d'une source d'alimentation de non-détermination (E2), qui a la même valeur de tension que la source d'alimentation de test (E1), est appliquée à chacune des lignes de cathode et d'anode qui ne sont pas connectées à l'élément d'affichage à évaluer. Dans la structure décrite jusqu'ici, la valeur d'un courant circulant de la source d'alimentation de test (E1) est déterminée par un moyen de détermination du courant (2), moyennant quoi l'état potentiellement défectueux de l'élément d'affichage à évaluer peut être examiné avec précision sans recevoir l'affection d'un 'courant parasite' via un élément défectueux qui n'est pas l'élément d'affichage à évaluer.
(JA) 複数の陽極線A1~Amと複数の陰極線K1~Knとの各交点位置に表示素子E11~Emnがマトリクス状に接続された表示パネル1の検査装置であり、検査対象となる表示素子が接続された陰極線には検査電源E1からの電圧が印加され、検査対象となる表示素子が接続された陽極線には前記検査電源E1の電圧値よりも低い測定陽極電源からの電圧(接地電位)が印加される。また、検査対象となる表示素子が接続されていない各陰極線および各陽極線には、検査電源E1の電圧と同一値である非測定電源E2の電圧が印加される。  前記した構成において検査電源E1から流れる電流値を電流計測手段2によって計測することで、検査対象外の欠陥素子を介した「回り込み電流」の影響を受けることなく、検査対象となる表示素子の欠陥状態を精度よく検査することができる。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)