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1. (WO2008026435) 顕微鏡
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2008/026435    国際出願番号:    PCT/JP2007/065539
国際公開日: 06.03.2008 国際出願日: 08.08.2007
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
出願人: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku Tokyo 1510072 (JP) (米国を除く全ての指定国).
IKETAKI, Yoshinori [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: IKETAKI, Yoshinori; (JP)
代理人: SUGIMURA, Kenji; 36F, Kasumigaseki Common Gate West 3-2-1, Kasumigaseki, Chiyoda-ku Tokyo 1000013 (JP)
優先権情報:
2006-232115 29.08.2006 JP
発明の名称: (EN) MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE
(JA) 顕微鏡
要約: front page image
(EN)A microscope is provided with a pump beam light source (21) for emitting a pump beam; an erase beam light source (22) for emitting an erase beam; light synthesizing sections (23-26) for coaxially synthesizing the pump beam and the erase beam; a light collecting section (62) for collecting the synthesized beams; scanning sections (44, 45) for scanning a sample with the synthesized beam; a detecting section (50) for detecting an optical response signal generated from the sample; a wavelength selecting element (42), which is arranged in an optical path of the synthesized light and has an erase beam selecting region, which has high wavelength selecting characteristics to the erase beam, and a pump beam selecting region, which has high wavelength selecting characteristics to the pump beam; and a spatial modulation element (43), which is arranged in the optical path of the synthesized beam and performs spatial modulation to the erase beam that corresponds to the erase light selecting region of the wavelength selecting element.
(FR)L'invention concerne un microscope muni d'une source de lumière à faisceau pompé (21), destinée à émettre un faisceau pompé ; d'une source de lumière à faisceau d'effacement (22), destinée à émettre un faisceau d'effacement ; d'unités de synthèse de la lumière (23-26), destinées à synthétiser coaxialement le faisceau pompé et le faisceau d'effacement ; d'une unité de recueillement de la lumière (62), destinée à recueillir les faisceaux synthétisés ; d'unités de balayage (44, 45), destinées à balayer un échantillon avec le faisceau synthétisé ; d'une unité de détection (50), destinée à détecter un signal de réponse optique généré par l'échantillon ; d'un élément de sélection de la longueur d'onde (42), disposé dans un chemin optique de la lumière synthétisée et comportant une zone de sélection du faisceau d'effacement, présentant des caractéristiques de sélection de longueur d'onde élevée pour le faisceau pompé ; et d'un élément de modulation spatiale (43), disposé dans le chemin optique du faisceau synthétisé et réalisant une modulation spatiale du faisceau d'effacement correspondant à la zone de sélection de la lumière d'effacement de l'élément de sélection de la longueur d'onde.
(JA) ポンプ光を出射するポンプ光用光源21と、イレース光を出射するイレース光用光源22と、ポンプ光およびイレース光を同軸に合成する光合成部(23~26)と、合成光を集光する集光部62と、合成光により試料を走査する走査部(44,45)と、試料から発生する光応答信号を検出する検出部50と、合成光の光路中に配置され、イレース光に対して高い波長選択特性を有するイレース光選択領域およびポンプ光に対して高い波長選択特性を有するポンプ光選択領域を備える波長選択素子42と、合成光の光路中に配置され、波長選択素子のイレース光選択領域に対応するイレース光を空間変調する空間変調素子43と、を有する。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)