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1. (WO2007116697) 波形整形装置および誤り測定装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

国際公開番号: WO/2007/116697 国際出願番号: PCT/JP2007/056243
国際公開日: 18.10.2007 国際出願日: 26.03.2007
IPC:
H03K 5/08 (2006.01) ,H03K 5/26 (2006.01)
H 電気
03
基本電子回路
K
パルス技術
5
このサブクラス中の他のメイングループの1によっては包括されないパルス操作
01
パルスの整形
08
振幅制限によるもの,しきい値によるもの,スライスによるもの,すなわち振幅制限としきい値の結合によるもの
H 電気
03
基本電子回路
K
パルス技術
5
このサブクラス中の他のメイングループの1によっては包括されないパルス操作
22
入力信号特性,例.傾斜,積分,にもとづいてパルスまたはパルス列をお互いに比較するための2つ以上の入力と1つの出力をもつ回路
26
入力信号特性が持続時間,間隔,位置,周波数または順序であるもの
出願人:
山根 一浩 YAMANE, Kazuhiro; null (UsOnly)
藤沼 一弘 FUJINUMA, Kazuhiro; null (UsOnly)
アンリツ株式会社 ANRITSU CORPORATION [JP/JP]; 〒2438555 神奈川県厚木市恩名五丁目1番1号 Kanagawa 5-1-1, Onna, Atsugi-shi, Kanagawa 243-8555, JP (AllExceptUS)
発明者:
山根 一浩 YAMANE, Kazuhiro; null
藤沼 一弘 FUJINUMA, Kazuhiro; null
代理人:
有我 軍一郎 ARIGA, Gunichiro; 〒1600022 東京都新宿区新宿一丁目1番14号 山田ビル Tokyo Yamada Building 1-1-14, Shinjuku, Shinjuku-ku Tokyo 160-0022, JP
優先権情報:
2006-09990831.03.2006JP
発明の名称: (EN) WAVEFORM SHAPING DEVICE AND ERROR MEASURING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MISE EN FORME DE SIGNAL ET DISPOSITIF DE MESURE D'ERREUR
(JA) 波形整形装置および誤り測定装置
要約:
(EN) It is possible to provide a waveform shaping device and an error measuring device capable of performing a waveform shaping process at a position where a sufficient amplitude is available for an input data signal even when the input data signal has a small amplitude and a code having a completely different mark ratio is used. The waveform shaping device (21) includes: voltage detection means (22) for detecting an input data signal (Da) and acquiring its amplitude and the amplitude center voltage; reference voltage generation means (23) for generating a reference voltage corresponding to the amplitude center voltage; and a comparator (25) for comparing the input data signal (Da) and the reference voltage. The waveform shaping device (21) further includes: correction information output means (27) for outputting correction information ΔV for correcting the error of the amplitude center voltage detected by the voltage detection means (22) according to the mark ratio (M) of the input data signal (Da) and the amplitude of the input data signal; and correction means (28) for correcting the reference voltage (or the DC offset value of the input data signal) inputted to the comparator (25) by the correction information ΔV.
(FR) Selon l'invention, il est possible d'utiliser un dispositif de mise en forme de signal et un dispositif de mesure d'erreur pouvant effectuer un traitement de mise en forme de signal à une position où est disponible une amplitude suffisante pour un signal de données d'entrée même lorsque le signal de données d'entrée présente une faible amplitude et qu'un code présentant un rapport de travail complètement différent est utilisé. Le dispositif de mise en forme de signal (21) inclut : un moyen de détection de tension (22) permettant de détecter un signal de données d'entrée (Da) et d'obtenir son amplitude et la tension à mi-amplitude, un moyen de génération de tension de référence (23) permettant de générer une tension de référence correspondant à la tension à mi-amplitude, ainsi qu'un comparateur (25) permettant de comparer le signal de données d'entrée (Da) et la tension de référence. Le dispositif de mise en forme de signal (21) inclut en outre : un moyen de sortie d'informations de correction (27) permettant de fournir en sortie des informations de correction ΔV permettant de corriger l'erreur de la tension à mi-amplitude détectée par le moyen de détection de tension (22) en fonction du rapport de travail (M) du signal de données d'entrée (Da) et de l'amplitude du signal de données d'entrée, ainsi qu'un moyen de correction (28) permettant de corriger la tension de référence (ou la valeur continue du décalage du signal de données d'entrée) reçue en entrée sur le comparateur (25) par les informations de correction ΔV.
(JA)  本発明は、入力データ信号の振幅が小さい場合でマーク率が大幅に異なる符号を用いる場合であっても、入力データ信号に対して振幅余裕のある位置で波形整形処理を行うことができる波形整形装置および誤り測定装置を提供することを目的とする。  本発明の波形整形装置は、入力データ信号Daを検波し、その振幅および振幅中心電圧を求める電圧検出手段22と、振幅中心電圧に対応した参照電圧を生成する参照電圧発生手段23と、入力データ信号Daと参照電圧とを比較するコンパレータ25とを含む波形整形装置21において、入力データ信号Daのマーク率Mと振幅とに基づいて、電圧検出手段22が検出する振幅中心電圧の誤差を補正するための補正情報ΔVを出力する補正情報出力手段27と、この補正情ΔVにより、コンパレータ25に入力される参照電圧(または入力データ信号の直流オフセット値)を補正する補正手段28とを備える。
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指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
国際公開言語: 日本語 (JA)
国際出願言語: 日本語 (JA)