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1. (WO2007116559) 蛍光X線分析装置
国際事務局に記録されている最新の書誌情報   

Translation翻訳: 原文 > 日本語
国際公開番号:    WO/2007/116559    国際出願番号:    PCT/JP2006/323407
国際公開日: 18.10.2007 国際出願日: 24.11.2006
IPC:
G01N 23/223 (2006.01)
出願人: RIGAKU INDUSTRIAL CORPORATION [JP/JP]; 14-8, Akaoji-cho, Takatsuki-shi, Osaka 5691146 (JP) (米国を除く全ての指定国).
KATAOAKA, Yoshiyuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
KOHNO, Hisayuki [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
YAMASHITA, Noboru [JP/JP]; (JP) (米国のみ).
DOI, Makoto [JP/JP]; (JP) (米国のみ)
発明者: KATAOAKA, Yoshiyuki; (JP).
KOHNO, Hisayuki; (JP).
YAMASHITA, Noboru; (JP).
DOI, Makoto; (JP)
代理人: SUGIMOTO, Shuji; Higobashi Nittai Bldg. 10-2, Edobori 1-chome, Nishi-ku Osaka-shi, Osaka 550-0002 (JP)
優先権情報:
2006-108491 11.04.2006 JP
発明の名称: (EN) FLUORESCENT X-RAY ANALYZER
(FR) ANALYSEUR A RAYON X FLUORESCENT
(JA) 蛍光X線分析装置
要約: front page image
(EN)This invention provides a fluorescent X-ray analyzer for determining sulfur contained in a sample, which can improve the analytical accuracy of a very small amount of sulfur by significantly reducing scattered X ray from the sample by continuous X ray from an X-ray tube and an escape peak by an argon gas in a proportional counter. In the fluorescent X-ray analyzer, a primary X ray is applied from an X-ray tube to a sample (S), and fluorescent X ray generated from the sample (S) is dispersed with a spectroscopic element followed by detection with an X-ray detector to analyze the sample (S). A fluorescent X-ray analyzer (1) for determining sulfur contained in a sample (S) comprises an X-ray tube (11) including a chromium-containing target, an X-ray filter (13), and a proportional counter (18) including a detector gas containing neon gas or helium gas. The X-ray filter (13) is disposed in an X-ray passage between an X-ray tube (11) and a sample (S) and is formed of an element material which has a predetermined transmittance for Cr-Kα line from the X-ray tube (11) and has no absorption end between energy of the S-Kα line and energy of the Cr-Kα line.
(FR)La présente invention concerne un analyseur à rayon X fluorescent destiné à déterminer la présence de soufre contenu dans un échantillon, qui peut améliorer la précision analytique d'une très petite quantité de soufre en réduisant de manière significative le rayon X dispersé à partir de l'échantillon par un rayon X continu provenant d'un tube de rayon X et un pic de saut par un gaz d'argon dans un compteur proportionnel. Dans l'analyseur à rayon X fluorescent, un rayon X primaire est appliqué à partir d'un tube de rayon X sur un échantillon (S), et le rayon X fluorescent produit à partir de l'échantillon (S) est dispersé avec un élément spectroscopique suivi de la détection avec un détecteur de rayon X destiné à analyser l'échantillon (S). Un analyseur à rayon X fluorescent (1) destiné à déterminer la présence de soufre contenu dans un échantillon (S) comprend un tube de rayon X (11) comprenant une cible contenant du chrome, un filtre de rayon X (13), et un compteur proportionnel (18) comprenant un gaz de détecteur contenant du gaz de néon ou du gaz d'hélium. Le filtre de rayon X (13) est disposé dans un passage de rayon X entre un tube de rayon X (11) et un échantillon (S) et est formé d'un matériau d'élément ayant une transmittance prédéterminée pour la ligne Cr-Kα provenant du tube de rayon X (11) et n'ayant aucune extrémité d'absorption entre l'énergie de la ligne S-Kα et l'énergie de la ligne Cr-Kα.
(JA) 試料に含有する硫黄を分析する蛍光X線分析装置において、X線管からの連続X線による試料からの散乱X線および比例計数管のアルゴンガスによるエスケープピークを大幅に減少させることにより、極微量の硫黄の分析精度を向上させることを目的とする。X線管からの一次X線を試料Sに照射し、試料Sから発生する蛍光X線を分光素子で分光しX線検出器で検出することにより、試料Sを分析する蛍光X線分析装置であって、クロムを含むターゲットを有するX線管11と、X線管11と試料Sとの間のX線通路に配置され、X線管11からのCr-Kα線に対し所定の透過率を有し、S-Kα線とCr-Kα線のエネルギ間に吸収端が存在しない元素の材質によるX線フィルタ13と、ネオンガスまたはヘリウムガスを含む検出器ガスを有する比例計数管18とを備え、試料Sに含まれる硫黄を分析する蛍光X線分析装置1。
指定国: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
アフリカ広域知的所有権機関(ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
ユーラシア特許庁(EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
欧州特許庁(EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
アフリカ知的所有権機関(OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
国際公開言語: Japanese (JA)
国際出願言語: Japanese (JA)